Aumente su productividad y reduzca los costes con el ICP-OES más rápido del mercado

Transcripción

1 Aumente su productividad y reduzca los costes con el ICP-OES más rápido del mercado

2 Características del ICP-OES Amplio espectro 78 elementos analizables. Muy adecuado para el análisis de elementos refractarios. Técnica simultanea, muy rápida y robusta. Amplio intervalo dinámico - ppb a % Precisión frecuentemente superior al 1% Gran tolerancia a sólidos disueltos. Gran tolerancia a los medios orgánicos. Pocas interferencias químicas Normalmente la preparación de muestra es sencilla Relativamente facil de operar Limitación: Consumo de Ar

3 Estrategias para la disminución de costes por ICP-OES Uso de mini-antorchas Disminución del flujo de Ar Limitación de la potencia del plasma Aumento de la eficacia de acoplamiento Disminución de gastos Aumentar la velocidad de análisis Tiempos de estabilización más rápidos Equipos de óptica simultanea Accesorios especiales para la toma de muestra Disminuir el tiempo de procesado de los resultados Corrección automática de fondos e interferencias Multicalibración Controles de calidad

4 Concentration (mg/l) Tiempo de puesta en marcha más rápido Nuevos detectores sellados sin necesidad de purga de Ar - Más rápida puesta en marcha. < 10 min de estabilización. - Menor consumo de gases, tanto en operación como en stand-by. 7 6 PC on, Plasma on Ar Ba Ba Mg Mg Zn :01 0:06 0:12 0:18 0:24 0:29 0:35 0:41 0:47 0:52 0:58 1:04 1:10 1:16 1:21 1:27 1:33 1:39 1:44 1:50 Hours:mins El tiempo de puesta en marcha desde que se enciende el PC hasta que se dispone de un plasma estable es <15 minutos 4

5 El único sistema de ICP-OES simultaneo Policromador Echelle Una sola rendija de entrada. Todos los elementos analizados en una única exposición. Mayor velocidad de análisis Mayor precisión Calibraciones más duraderas Mejor corrección con standard interno

6 El único sistema de ICP-OES simultaneo: Policromador Echelle Interfase CCI Patentada Interfaz de cono refrigerado Apertura de la cola del plasma

7 Detectores empleados en ICP-OES de optica Echelle 720/725 CCD 710/715 CCD CID SCD Adaptación ideal al espectro Cobertura total de long de onda Simultaneo en todo el intervalo de long de onda Sin tiempos de retraso prelectura Tiempo de medida independiente de las intensidades Sin tiempos extra de preintegración Sin recubrimientos de lumogen larga vida Alta densidad de píxels permitiendo hacer fitted background Fast automated curve fitting FACT 7

8 Nuevos accesorios para la toma de muestra One-Neb Un solo nebulizador para todas las aplicaciones. Concatenar métodos MSIS Generación de hidruros o vapor frío simultaneo con el análisis del resto de elementos.

9 Nuevos accesorios para la toma de muestra Válvula de intercambio automático de cuatro vías (SVS1) Menor tiempo de toma de muestra y lavado. Asegura la ausencia de arrastres entre disoluciones. Compatible con el SPS-3 y Cetac ASX % aumento de productividad 25% ahorro de argón 9

10 Nuevos accesorios para la toma de muestra Cuatro triggers desde el software Posición de inicio: Posición A (Lavado instantaneo) Cuando termina el tiempo de delay: Posición B (Muestra) Cuando entra la disolución: Posición A (lavado instantaneo) Fin del análisis: Posición B (limpieza del auto-sampler)

11 Nuevos accesorios para la toma de muestra SVS2 Productivity Pack

12 Nuevos accesorios para la toma de muestra Que es el paquete de productividad SVS2? Es un sistema con una válvula de álta velocidad de 12 puertos con 2 posiciones y una bomba peristáltica de alta velocidad que elimina virtualmente el tiempo de toma de muestra y los tiempos de lavado. Beneficio El Paquete de Productividad dobla la productividad del equipo, reduce el consumo de Ar y aumenta el tiempo de vida de la antorcha Dobla el rendimiento respecto de un sistema de introducción de muestras convencional. La toma de muestra se aisla de la nebulización para mejorar la productividad. El lavado tiene lugar mientras la muestra está analizándose para aumentar los tiempos de lavado. Aumenta la estabilidad, especialmente para muestras con alto TDS Disminuye la degradación de la antorcha y mantenimiento

13 Nuevos accesorios para la toma de muestra Como trabaja? Bomba peristáltica rápida Analisis Carga

14 Signal Nuevos accesorios para la toma de muestra Modo de medida No SVS SVS Time (s)

15 Nuevos accesorios para la toma de muestra Análisis del ahorro de tiempos Análisis con 720-ES + SPS3 SOLO Análisis con 720-ES + SPS3 + SVS1 Análisis con 720-ES + SPS3 + SVS2 Operación Tiempo (s) Tiempo de lavado (s) Tiempo (s) Tiempo de lavado (s) Tiempo (s) Tiempo de lavado (s) Moviemiento del autosampler a la muestra Tiempo de toma/retraso de carga Tiempo de estabilización del instrumento Tiempo de medida de muestra Movimiento de la sonda del autosampler al lavado. Tiempo de lavado de la sonda del autosampler Tiempo total Análisis de tiempo ahorrado 15 segundos 35 segundos

16 Productivity (no. of samples) Nuevos accesorios para la toma de muestra SVS2 Beneficios Dobla la productividad Disminuye a la mitad el consumo de Ar. Aumenta la vida de la antorcha Análisis más rápido y mayor tiempo de limpieza Menor arrastre entre muestras Mejor precisión con mayor estabilidad del plasma Menor carga de muestra Menos depósitos de sales en el inyector Mayor estabilidad a largo plazo al usar muestras con altos TDS Time (hours) with SVS2 with SVS1 without SVS >133% more Productivity >33% more Productivity

17 Corrección automática de fondos e interferencias. Intensität 4000 As La elevada densidad de píxels en el detector es un rasgo único que permite a nuestro software usar la corrección adaptada de los fondos a tiempo real, no siendo necesario fijar los puntos de integración del pico Wellenlänge (nm) S: 1969 B: 1179 SUV: 0.670

18 Corrección automática de fondos e interferencias. Trazado de fondos ajustado La cuantificación en ICP-OES ha de hacerse por la medida de la intensidad neta de la emisión. La intensidad de los fondos debe ser sustraída. Los equipos de Agilent 7XX ICP-OES son los únicos capaces de medir la intensidad neta restando los fondos sin ninguna intervención del analista. Esto solo es posible por la gran densidad de píxels en cada elemento de resolución de nuestros detectores En todo el resto de equipos de ICP-OES el analista debe comprobar las posiciones del BG para todos los elementos en muestras desconocidas El análisis de muestras desconocidas es mucho más seguro con el BG ajustado B Lineal G/D Ajustado

19 Corrección automática de fondos e interferencias. FACT. Deconvolución espectral de interferentes Cd nm/ Fe nm Permite corregir: blanco, matriz y hasta 7 interferencias por metal. Cd Fe Se precisa una mínima separación entre interferente e interferido (3 pm) Ni nm en matriz orgánica Señal total Interferente analito

20 Ejemplos de análisis: Muestras agrícolas de suelos y foliares Digestión por microondas de acuerdo con la USEPA method 3051A Agilent 720 ICP-OES con Paquete de Productividad SVS2 RF = 1.3 kw Neb = 0.7 L/min Plasma gas = 15 L/min Auxiliary gas = 1.5 L/min Consumo total de muestra = 1 ml Tiempo de adquisición = 2 x 5 segundos por réplica Retraso de toma de muestra = 0 segundos Retraso de estabilización = 7 segundos Tiempo de lavado = 0 segundos Tiempo de carga del loop = 6 segundos Tiempo total de análisis de muestra = 30 segundos

21 NIST SRM 1571 Hoja de Orquídea Elemento Unidad Intervalo especificado Medido As mg/kg ± 30 Co mg/kg ± 0.79 Cr mg/kg ± 1.5 Cu mg/kg Mn mg/kg Na mg/kg Ni mg/kg ± 1.2 Pb mg/kg Zn mg/kg Al Wt % Ca Wt % K Wt % Mg Wt %

22 NIST SRM 2710 Extractos de suelos de Montana Elemento Unidad Intervalo especificado Medida As mg/kg ± 30 Ba mg/kg ± 16.1 Co mg/kg ± 0.79 Cr mg/kg ± 1.5 Cu mg/kg ± 109 Mn mg/kg ± 404 Ni mg/kg ± 1.2 Pb mg/kg ± 302 Zn mg/kg ± 378 Al Wt % ± 0.18 Ca Wt % ± Fe Wt % ± 0.34 K Wt % Mg Wt % ± Na Wt %

23 Ejemplos de análisis: Análisis de aguas siguendo la reglamentación USEPA Agilent 720 ICP-OES con Pack de Productividad SVS2 RF = 1.4 kw Neb = 0.7 L/min Plasma gas = 15 L/min Auxiliary gas = 1.5 L/min Consumo total de muestra = 1 ml Tiempo de adquisición= 2 x 20 segundos por réplica Tiempo de toma de muestra = 12 segundos Tiempo de estabilización = 0 segundos Tiempo de lavado = 0 segundos Tiempo de rellenado del loop = 8 segundos Tiempo total de análisis de muestra = 68 segundos

24 NIST SRM 1643e Elementos Traza en Aguas Elemento Unidad Especificado Medido MDL Al g/l As g/l Ba g/l Ca g/l 32,300 30,995 8 Cd g/l Co g/l Cr g/l Cu g/l Fe g/l K g/l Mn g/l Na g/l 20,740 19,061 5 Ni g/l Pb g/l Se g/l Zn mg/l

25 CWW-TM-C Elementos Traza en aguas residuales Elemento Unidades Especificado Medido MDL Al g/l As g/l Ba g/l Cd g/l Co g/l Cr g/l Cu g/l Fe g/l Mn g/l Ni g/l Pb g/l Se g/l Zn mg/l

26 Seconds Productividad Comparada 1200 Tiempo de análisis de muestra (s) Competitors Sequential ICP Agilent 710 Agilent 720 Agilent 720 with SVS2 Basado en los 22 elementos analizados de acuerdo con la USEPA method

27 Conclusiones de los sistemas de alta productividad Cada sistema Agilent ICP-OES simultaneo está ya optimizado para conseguir las mejores prestaciones analíticas y los costes operativos más bajos. El detector ha sido optimizado para aumentar el rendimiento del equipo. La óptica simultanea con el sistema CCI de eliminación de interferencias permite la adquisición conjunta de todas las líneas de emisión. Pueden incorporarse múltiples accesorios para aumentar aún más estas prestaciones. Nuevo nebulizador One-neb y nuevo sistema de hidruros MSIS Sistema SVS-1 para mejora de productividad y disminución de gasto de Ar y fungibles SVS2 es la mejor herramienta para mejorar la productividad y los costes de análisis