LICITACIÓN PÚBLICA NO. 067 DE 2010

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1 LICITACIÓN PÚBLICA NO. 067 DE 2010 ADQUISICIÓN DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO PARA EL EDIFICIO DE INVESTIGACIONES DE LA UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER UBICADO EN LA SEDE GUATIGUARÁ 1. Informe de evaluación jurídica CONDICIONES DE PARTICIPACIÓN VERIFICABLES CONFORME A LOS PLIEGOS DE CONDICIONES Otros requisitos formales No. PROPONENTES Capacidad Jurídica según su objeto y Facultades R. Legal Inhabilidades e incompatibilidades Documento Constitución Consorcio o Unión Temporal Paz y salvo de aportes a seguridad social Y parafiscales Certificado de Antecedentes Fiscales Certificado de Antecedentes Disciplinarios Carta de presentación RUT Certificado de existencia y representación o cédula de ciudadanía Póliza de Seriedad de la Oferta Pago de los Pliegos de Condiciones y estampilla prouis Calificación Informe de evaluación de Proveedores 1 UNIÓN TEMPORAL FEIBE UIS 2010 Observación Observacion No aplica 2 AROTEC COLOMBIANA S.A. EN No aplica No. 1 PROPONENTE UNIÓN TEMPORAL FEIBE UIS 2010 AROTEC COLOMBIANA S.A. EN CONCLUSIONES Y OBSERVACIONES 1. Solicitamos aclaración sobre cuál es la cuantía máxima de contratación del Representante Legal Hendrik Johannes van Oojen de acuerdo al documento de cámara de comercio entregado. 2.Debe allegar aclaración del asegurado en la Póliza de Seriedad de la Oferta juridicamente con las condiciones de participacion y las estipulaciones formales establecidas en la ley y en los pliegos de condiciones de la presente licitacion pública. MARIA PIEDAD ECHEVERRIA RODRIGUEZ ASESORA JURÍDICA DCPI

2 LICITACIÓN PÚBLICA NO. 067 DE 2010 ADQUISICIÓN DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO PARA EL EDIFICIO DE INVESTIGACIONES DE LA UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER UBICADO EN LA SEDE GUATIGUARÁ 2.1 Informe de evaluación documentación técnica CERTIFICACIÓN DEL FABRICANTE EXPERIENCIA ESPECÍFICA GARANTÍA MÍNIMA SOPORTE TÉCNICO CERTIFICADO DE CALIDAD ISO CAPACITACIÓN REGISTRO ÚNICO DE PROPONENTES PROPONENTES Formulario No. 2 Certificaciones Clasificación, especialidad y grupo K de contratación 1. UNIÓN TEMPORAL FEIBE UIS 2010 Folio Folios 41 Folios Folios Folios 57-64, 67 Folio 68 Folio Folios AROTEC COLOMBIANA S.A. EN Folios Folios Folios Folios 127 Folio Folio 71 Folio 120, Folios Capital de trabajo CAPACIDAD FINANCIERA Nivel de solvencia Nivel de endeudamiento 2.2 Informe de evaluación especificaciones técnicas ESPECIFICACIONES TÉCNICAS SOLICITADAS Marca 1. UNIÓN TEMPORAL FEIBE UIS 2010 FEI 2. AROTEC COLOMBIANA S.A. EN CARL ZEISS Referencia QUANTA 650 FEG SUPRA 55VP 1. DISEÑO 1.1. Microscopio Electrónico debe ser controlado totalmente por computadora tipo PC y software de operación en ambiente Windows 1.2. Debe permitir el ajuste de las funciones principales (resolución, escaneo y análisis químicos) mediante perillas Debe incluir los accesorios analíticos EDS (Energy Dispersive X- ray Spectroscopy) BSE (backscattered Electron detector) y ES (secondary electron) 1.4. Debe soportar adicionalmente diversos accesorios analíticos como son: WDS (Wavelength Dispersive Spectrometer) y EBSD (electron backscattered diffraction), los cuales deben poder utilizarse de forma simultánea La geometría de la cámara debe permitir en un futuro poder adicionar los accesorios descritos en el numeral El equipo debe contar con un diseño que permita una alta versatilidad en su manejo y en la observación de muestras para diferentes modos de operación, por tal motivo no se aceptará ningún equipo que cuente con algún detector que deba ser removido para la utilización de un detector adicional. folio 176 folio folio 159 folio 159 folio 150, 201 folio 150 folio 175, 141 folio 153, 199

3 1.7. Debe permitir la observación de muestras sin recubrir para la cual debe incluir una cámara de muestras con presión diferencial que permita operar en modo de bajo vacío Debe controlar los diversos niveles de presión de alto y bajo vacio Debe incluir como mínimo un filamento o unidad de emisión de campo El cambio entre todos los diferentes modos de operación e imagen debe realizarse de forma automática, tanto en alto como en bajo vacio, y sin la necesidad de abrir la cámara de muestras, una vez estén cargadas todas las muestras. 2. CAPACIDAD PARA EL ANÁLISIS DE TODO TIPO DE MUESTRAS: 2.1. Muestras conductoras 2.2. Muestras no conductoras 2.3. Muestras biológicas 2.4. Muestras magnéticas y paramagnéticas 3. RESOLUCIÓN DE LA IMAGEN: Para investigaciones analíticas y de alta resolución máximo un (1) nm 4. INTERFACE GRÁFICA: folio 157 folio folio 197 folio 196 Folio Folio Interface de control ambiente Windows utilizando iconos y palabras de fácil acceso, para el control y operación del microscopio, selección de porta-muestras basado en graficas, representación gráfica de la platina, cámara y detectores lo que facilita su exploración y control. folio CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS DE LA CÁMARA 5.1. Cámara de alta rigidez y de gran tamaño para el trabajo con muestras grandes 5.2. Dimensiones internas desde 200 mm de diámetro 80 mm de altura mínimo Accesorios en cámara y puerta de platina 5.4. Cámara para observación interna de la cámara del microscopio. folio CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS DE LA PLATINA 61. Platina de alta precisión y reproducibilidad por software con ejes motorizados Acceso fácil y rápido Movimiento controlado a través del mouse sobre la gráfica en pantalla o a través de joystick doble de control incluido en el precio. La sensibilidad es proporcional a la magnificación. Alternativamente se admiten panel de control combinado (de toque de pantalla y análogo de perillas) y trackball Monitor LCD entre 19 y máximo 24 (pulgadas) 6.5. Control de platina de tal forma que se pueda visualizar tridimensionalmente la misma y del porta muestras completo, imágenes en miniatura de posiciones de interés sobre la muestra que pueden ser almacenadas para una navegación posterior Alarma audible y desplegada en pantalla ante cualquier contacto con la cámara folio 142 folio PORTA MUESTRAS INCLUIDOS 7.1. Carrusel para mínimo ocho dispositivos individuales

4 7.2. Porta muestras sencillo 7.3. Porta muestras multipropósito 7.4. Adaptador para montaje y desmontaje de portamuestras 8. DISPOSITIVOS DE CONTROL EXTERNO Dispositivos manuales externos (mouse, joystick o trackball, y teclado) de control y operación del microscopio mediante perillas giratorias para foco, brillo, contraste, integrados en el teclado y manejo de la platina motorizada por intermedio de Joystick, estos controles son adicionales a la opción del mouse y se encuentran incluidos en el precio. Folio DETECTORES: 9.1. Detectores de electrones secundarios para la obtención de imágenes topográficas de alta resolución 9.2. Detector de electrones retro dispersos para la obtención de imágenes de contraste de alta resolución 9.3. Detector de electrones retro dispersos para análisis cristalino de la superficie. El detector no debe ser de tipo retráctil. La posición de este detector no debe afectar el desempeño de cualquiera de los demás detectores como son SED, EDS, WDS, etc Detectores habilitado para el trabajo en alto y bajo vacio 9.5. Sonda EDS para análisis elemental superficial 10. CONTROLES Contraste y brillo automático para compensar cambios en la señal Incluye cámara CCD con iluminación IR. 11. PROCESAMIENTO DE IMAGEN Folio folio 159 folio Alta resolución de almacenamiento Las imágenes pueden ser almacenadas en formato TIFF (8 o 16 bits), BMP, JPG, AVI folio folio SOFTWARE PARA DIAGNÓSTICO REMOTO: Software para soporte y diagnostico remoto lo que permite un diagnostico vía internet, habilitado para detectar posibles errores en el sistema con la posibilidad de corrección remota. folio REQUERIMIENTOS DE INSTALACIÓN Voltaje V 50 / 60 Hz PLATINA DE ENFRIAMIENTO Debe incluir una platina de enfriamiento del tipo Peltier en un rango de temperatura entre -25 y 50 C, debe incluir el sistema lector y control de temperatura SISTEMA PARA RECUBRIMIENTO DE MUESTRAS: Debe incluir sistema tipo Ion Sputtering que permita recubrir muestras con cualquier blanco metálico y con carbón. Debe incluir al menos un blanco de oro y barras de carbón folio EQUIPO DE CÓMPUTO: RAM: 8 GB mínimo folio 143

5 16.2. Procesador mínimo: Intel Core i7, 3.06 GHz, 8 núcleos; o su equivalente Tarjeta de video NVIDIA o similar, de mínimo 2 GB Sistema Operativo: Microsoft Windows Comunicación externa: USB, serial, paralelo y MODEM Red: Tarjeta de10/100/1000 con conexión RJ Drives de los discos: Disco duro de al menos 1 TB Quemador lector de DVD doble capa light Scribe Teclado Un monitor mínimo de Mouse para control del instrumento Panel de control con mandos rotatorios y joystick o trackball folio 143 folio 201 folio 136 DARIO YESID PEÑA BALLESTEROS MARIO HUMBERTO TORRES M. Profesor Director Escuela de Ingeniería Metalúrgica y Ciencia de Materiales Contratación y Proyectos de Inversión GLORIA COBALEDA COBALEDA Asesora Experta Microscopia Electrónica

6 LICITACIÓN PÚBLICA NO. 067 DE 2010 ADQUISICIÓN DE UN MICROSCOPIO ELECTRÓNICO PARA EL EDIFICIO DE INVESTIGACIONES DE LA UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER UBICADO EN LA SEDE GUATIGUARÁ 3. CRITERIOS DE EVALUACIÓN Y ASIGNACIÓN DE PUNTAJE TRM (20 diciembre de 2010): $1, Euro (20 diciembre de 2010): USD$ PROPONENTE 1. UNIÓN TEMPORAL FEIBE UIS 2010 OFRECIMIENTO 2. AROTEC COLOMBIANA S.A. EN PUNTAJE OFRECIMIENTO PUNTAJE VALOR DE LA PROPUESTA Presupuesto oficial: USD$ Valor de propuesta: Valor de la propuesta en Dólares Americanos: Valor de la propuesta en Dólares Americanos: , , RESOLUCIÓN OFRECIDA 0.8 nm nm 250 GARANTÍA ADICIONAL A LA MÍNIMA REQUERIDA 36 meses meses 117 DIMENSIONES DE LA CÁMARA 379 mm de diámetro mm de diámetro 0 Placa de calentamiento Si ofrece, hasta 1500 o C 50 Si ofrece, hasta 800 o C 0 PRODUCTOS ADICIONALES Cantidad de filamentos o unidades de emisión de campo adicionales al mínimo solicitado PUNTAJE 966 PUNTAJE 892 DARIO YESID PEÑA BALLESTEROS MARIO HUMBERTO TORRES M. GLORIA COBALEDA COBALEDA Profesor Director Asesora Experta Microscopia Electrónica Escuela de Ingeniería Metalúrgica y Ciencia de Materiales Contratación y Proyectos de Inversión