Evaluador Líder Técnico/Laboratorios de Calibración ISO/IEC 17025: 2005/ NMX-EC IMNC-2006.

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1 A B C LABORATORIOS DE CALIBRACIÓN Evaluador Líder Técnico Evaluador Técnico Expertos Técnicos A Evaluador Líder Técnico/Laboratorios de Calibración ISO/IEC 17025: 2005/ NMX-EC IMNC A.1 ANALIZADORES ESPECIFICOS 1. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores. Vigencia a partir del: Codificación: EVLTAN LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Analizadores Específicos (Calibración de dinamómetros). A.2 DIMENSIONAL 1. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTDI LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Instrumentos a trazos, (Calibración de cintas métricas, Calibración de flexómetros, Calibración de reglas) Instrumentos industriales (Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales, Calibración de medidores de alturas, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de micrómetro para interiores, Calibración de indicadores de carátula). 2. Nombre: Delgado Briseño María Cecilia Vigencia a partir del: Codificación: EVLTDI LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Amplificadores ópticos (Calibración de comparadores ópticos con bloques patrón) Ángulo (Calibración de mesas de plenitud con autocolimador) Instrumentos a trazos (Calibración de cintas métricas, Calibración de flexómetros y Calibración de reglas) Instrumentos industriales (Calibración de medidores de alturas, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de indicadores de carátula y Calibración de calibradores de indicadores). A.3 FUERZA 1. Nombre: Lira Guerra Guadalupe del Rocío Vigencia a partir del: Codificación: EVLTFU LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Fuerza - Calibración de Instrumento de medición con transductor de fuerza, Calibración de Instrumento de medición de fuerza con masas suspendidas, Calibración de transductores de medición de fuerza con masas suspendidas. 2. Nombre: López Contreras Octavio Vigencia a partir del: Codificación: EVLTFU LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Fuerza - Calibración de máquina de ensaye con transductor de fuerza, Calibración de Instrumento de medición con transductor de fuerza, Calibración de Instrumento de medición de fuerza con masas suspendidas, Calibración de transductores de medición de fuerza con transductor de fuerza, Calibración de transductores de medición de fuerza con masas suspendidas. A.4 MASA 1. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTMA LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Masa (Calibración de instrumentos para pesar de funcionamiento no automático (menor o igual a kg) Calibración de pesas F1 y F2 y equivalentes, Calibración de pesas M1, M2, M3 y equivalentes). Página 1 de 51

2 2. Nombre: Novoa Castañeda Arturo Vigencia a partir del: Codificación: EVLTMA LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Masa - Calibración de instrumentos para pesar (Calibración de instrumentos para pesar de funcionamiento no automático por el método de Comparación Directa, Calibración de instrumentos para pesar de funcionamiento no automático por el método de Cargas de Sustitución, Calibración de tanques utilizando como patrón un medidor de flujo tipo Coriolis), Calibración de pesas (Calibración de pesas clases F 1, e inferiores (NOM-038-SCFI-2000 / OIML R (E)), clases 2 a 7 (ASTM E617-13), clases S, S-1, P, Q y T (NBS C 547), NIST Handbook y NIST Handbook , Determinación de masa convencional (Determinación de masa convencional de objeto sólido no normalizado). 3. Nombre: Lira Guerra Guadalupe del Rocío Vigencia a partir del: Codificación: EVLTMA LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Masa (Calibración de instrumentos para pesar de funcionamiento no automático (menor o igual a kg) Calibración de pesas F1 y F2 y equivalentes, Calibración de pesas M1, M2, M3 y equivalentes). A.5 MEDICIONES ESPECIALES 1. Nombre: Cerón Toledano Ma. de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTMESP LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, mediciones especiales (Medios (Cámara de humedad, Generador de humedad, Cámara de temperatura y humedad controlada (cámara climática), Autoclave, Incubadora, Refrigerador, Congelador, Ultracongelador, Liofilizador, Estufa, Habitaciones, Recintos, Almacenes, Invernaderos, Cámara de tratamiento térmico: Horno, Mufla, Túneles, Baño con recirculador, de lecho fluidizado, baño maría o analizador térmico diferencial (DTA), Hornos (pozo seco), Cámaras de envejecimiento acelerado o cámaras salinas, Cámara de acondicionamiento de muestra), Equipos e Instrumentos de Medición Analítica (Analizador termogravimétrico o Temobalanza., Centrifuga con o sin control térmico, Viscosímetro dinámico, Turbidímetro, Medidor de potencial de Hidrógeno (ph), Medidor de conductividad electrolítica, Analizador de carbono orgánico total (TOC)., Medidor de punto de fusión, ablandamiento o caída, Medidor de punto de ebullición, Durometros farmacéuticos, Polarímetros, Refractómetros, Desintegradores, Disolutores, Tituladores potenciométricos), Servicios de Medición (Medición de viscosidad, Medición de punto de apertura y cierre de válvulas de seguridad, Medición de flujo)). A.6 PRESIÓN 1. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTPR LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Presión (Calibración de manómetros, Calibración de manómetros diferenciales, Calibración de transductores de presión, Calibración de vacuómetros y Calibración de columnas de líquido). 2. Nombre: Lira Guerra Guadalupe del Rocío Vigencia a partir del: Codificación: EVLTPR LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Presión (Calibración de manómetros, Calibración de vacuómetros y Calibración de balanzas de presión). A.7 TEMPERATURA 1. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTM LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Temperatura (Incertidumbre 0,05 C por comparación con termómetros de resistencia de platino o TLV calibrados, Incertidumbre 0,05 C por comparación con termómetros de resistencia de platino o TLV calibrados, Calibración de termómetros de resistencia de platino, Incertidumbre 0,1 C por método de comparación con termómetro calibrado, 0,1 C Incertidumbre 2 C por método de comparación con termómetro calibrado, Calibración de Página 2 de 51

3 termopares, 0,1 C Incertidumbre 2 C por método de comparación con termómetro calibrado, Calibración de termómetros de radiación monocromática, 1 C Incertidumbre 5 C por método de comparación con termómetro de radiación t > 960 C, 1 C Incertidumbre 5 C por método de comparación con termómetro de contacto (resistencia de platino o termopar) patrón y cuerpo negro como medio t > 960 C, Calibración de termómetros de radiación de banda ancha, 1 C Incertidumbre 5 C por método de comparación con termómetro de radiación t > 960 C, 1 C Incertidumbre 5 C por método de comparación con termómetro de contacto (resistencia de platino o termopar) patrón y cuerpo negro como medio t < 960 C, Calibración de termómetros de lectura directa, Incertidumbre 0,1 C por método de comparación con termómetro calibrado, 0,1 C Incertidumbre 2 C por método de comparación con termómetro calibrado, Medios isotermos). 2. Nombre: Lira Guerra Guadalupe del Rocío Vigencia a partir del: Codificación: EVLTM LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Temperatura (Calibración de termómetros de líquido en vidrio, Calibración de termómetros de resistencia de platino, Calibración de termopares, Calibración de termómetros de radiación y Calibración de termómetros de lectura directa). A.8 ELÉCTRICA 1. Nombre: Vidales Davila José Antonio Vigencia a partir del: Codificación: EVLTEL LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Tensión eléctrica alterna, Tensión eléctrica continua Resistencia eléctrica, Ángulo de fase, Corriente eléctrica alterna, Corriente eléctrica continua, Simulación de resistencia eléctrica, Simulación de capacitancia eléctrica, Potencia eléctrica alterna, Alta tensión eléctrica alterna, Alta tensión eléctrica continua, Simulación de temperatura, Capacitancia Calibración de calibradores y multímetros; Alta). A.9 ÓPTICA 1. Nombre: Cerón Toledano Ma. de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: EVLTOP LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Óptica, Fotometría, Calibración de medidor de iluminancia (luxómetro y fotómetro para unidades de lux o fc). B Evaluador Técnico / Laboratorios de Calibración ISO/IEC 17025: 2005/ NMX-EC IMNC B.1 DIMENSIONAL 1. Nombre: Zeleny Vázquez José Ramón Vigencia a partir del: Codificación: EVTDI LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Bloques patrón cortos (Calibración de bloques patrón cortos contra bloques del mismo nominal y Calibración de bloques patrón cortos contra bloques de diferentes nominales) Bloques patrón largos (Calibración de bloques patrón largos por comparación con bloques de la misma longitud en máquina de medición unidimensional y Calibración de bloques patrón largos con bloques de diferente longitud en máquina de medición unidimensional) Máquinas de medición por coordenadas (Verificación del desempeño de máquinas de medición por coordenadas, Medición con máquina de medición por coordenadas y Calibración de MMC con interferómetro). Página 3 de 51

4 B.2 ELECTRICA 1. Nombre: González González Alonso Salvador Vigencia: Codificación: EVTEL LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica, Calibración de calibradores y multímetros, Alta incertidumbre: (4 4/5, 4 ¾, 4 ½ dígitos y menores y de lectura analógica), Tensión eléctrica continúa y alterna, corriente eléctrica continua y alterna, resistencia eléctrica determinada por parámetros continuos, Potencia eléctrica continúa y alterna. Energía eléctrica alterna, Capacitancia, Media incertidumbre: 5 ½ dígitos y 6 ½ dígitos, Tensión eléctrica continúa y alterna, corriente eléctrica continua y alterna, resistencia eléctrica determinada por parámetros continuos, Potencia eléctrica continúa y alterna. Energía eléctrica alterna, Capacitancia, Simulación de termopares y de RTD, Baja incertidumbre: 7 ½ dígitos y 8 ½ dígitos, Tensión eléctrica continua, Tensión < 100 mv, Tensión 100 mv a 100 V, Tensión 100 V a 1000 V, Tensión eléctrica alterna, Debajo de 100 mv (desde 40 Hz hasta 100 khz), Entre 100 mv y 1000 V (desde 40 Hz hasta 100 khz), Frecuencias de 100 khz hasta 1 MHz, Corriente eléctrica continua, De 100 na a 1 µa, De 1 µa a 1 A, De 1 A a 20 A, Corriente eléctrica alterna, De 1 ma a 20 A, Frecuencia de 40 Hz a 5 khz, Resistencia eléctrica determinada por parámetros continuos, De 10 mω a 10 Ω, De 10 Ω a 100 kω, De 100 kω a 1 GΩ, Calibración de puentes de impedancia (capacitancia, inductancia y resistencia eléctrica determinada por parámetros alternos), Baja exactitud (> 1%), Media exactitud (> 0,020 %), Alta exactitud (< 0,020 %), Wáttmetros y watthorímetros, Media exactitud (> 0,025 %), Alta exactitud (< 0,025 %), Calibración de décadas, Valores menores a 10 Ω, Valores de 10 Ω a 100 kω, Valores de 100 kω a 1 GΩ, De capacitores, Bajos valores de 1 pf a 1 nf por paso, Valores medios 1 nf a 1 µf por paso, De Inductores, Bajos valores de 100 µh a 10 mh por paso, Valores medios 10 mh a 1 H por paso, Patrones, Referencias Zener (1,018 V, 1V y 10 V), Resistores patrón, De 1 mω a 1 Ω, De 1 Ω a 100 kω, De 100 kω a 1 TΩ, Patrones de transferencia CA-CC en tensión, Patrones de transferencia CA- CC en corriente, Capacitores patrón, Bajos valores de 1 pf a 1 nf por paso, Valores medios 1 nf a 1 µf por paso, Valores medios 1 µf a 1 F tipo auto transformador, Inductor patrón, Bajos valores de 100 µh a 10 mh por paso, Valores medios 10 mh a 1 H por paso, Calibración de medidores de ángulo de fase, Baja exactitud (> 0,010 ), Alta exactitud (< 0,010 ), Alta tensión eléctrica continúa. Calibración de: Generadores y medidores hasta 100 kv, Generadores y medidores > 100 kv, Divisores resistivos hasta 100 kv, Divisores resistivos > 100 kv, Alta tensión eléctrica alterna Calibración de: Generadores y medidores hasta 100 kv, Generadores y medidores > 100 kv, Divisores capacitivos hasta 100 kv, Divisores capacitivos > 100 kv, Alta corriente eléctrica continúa. Calibración de: Generadores y medidores 20 A a 1000 A, Generadores y medidores > 1000 A, Alta corriente eléctrica alterna. Calibración de: Generadores y medidores 20 A a 1000 A, Generadores y medidores > 1000 A, Calibración de transformadores de potencial, Baja exactitud > 0,1 % hasta 500 kv, Alta exactitud < 0,1 % hasta 500 kv, Simulación de resistencia eléctrica (Generación y medición), Simulación de capacitancia eléctrica (Generación y medición), Relación de transformación (Generación y medición), Simulación de temperatura (Generación y medición), Factor de disipación (Tangente delta), Calibración de medidores de baja resistencia con alta corriente, Calibración de medidores de alta resistencia, Probadores de rigidez dieléctrica, Calibración de medidores de sistemas de tierra, Calibración de ampérmetros de gancho. C Experto Técnico / Laboratorios de Calibración ISO/IEC 17025: 2005/ NMX-EC IMNC C.1 DENSIDAD 1. Nombre: Carrillo Vélez Gustavo Adolfo Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-006-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de densímetros de inmersión y Calibración de densímetros de indicación digital). 2. Nombre: Cedillo López Francisco Javier Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-003-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de densímetros de inmersión y Calibración de densímetros de indicación digital). Página 4 de 51

5 3. Nombre: Daued Mendoza Arturo Augusto Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-011-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de instrumentos para determinar densidad (Calibración de densímetros digitales para medición estática, Calibración de densímetros de inmersión. Comparación por el método de Cuckow, Calibración de densímetros digitales para medición dinámica), Determinación de densidad de líquidos (Calibración de densidad de líquidos utilizando un densímetro de frecuencia, Calibración de densidad de líquidos utilizando un sólido patrón)). 4. Nombre: Centeno González Luz María Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-009-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de instrumentos para determinar densidad (Calibración de densímetros digitales para medición estática, Calibración de densímetros de inmersión. Comparación por el método de Cuckow, Calibración de densímetros digitales para medición dinámica), Determinación de densidad de líquidos (Calibración de densidad de líquidos utilizando un densímetro de frecuencia, Calibración de densidad de líquidos utilizando un sólido patrón)). 5. Nombre: García Reyes Mario Guillermo Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-002-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad, (Calibración de densímetros de inmersión y Calibración de densímetros de indicación digital). 6. Nombre: Luna Torres Alfonso Damián Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-008-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de densímetros de inmersión, Comparación por el método de Cuckow). 7. Nombre: Martínez Laguna Ricardo Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-004-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de densímetros de inmersión). 8. Nombre: Peña Pérez Luis Manuel Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-012-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de instrumentos para determinar densidad (Calibración de densímetros digitales para medición estática, Calibración de densímetros de inmersión. Comparación por el método de Cuckow, Calibración de densímetros digitales para medición dinámica), Determinación de densidad de líquidos (Calibración de densidad de líquidos utilizando un densímetro de frecuencia, Calibración de densidad de líquidos utilizando un sólido patrón)). 9. Nombre: Rivera Ramírez José Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-013-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad (Calibración de densímetros de inmersión por método de Cuckow, Calibración de densímetros digitales para medición dinámica (Por comparación con un picnómetro, Por comparación con un densímetro de inmersión, Por comparación con un densímetro digital para medición dinámica, Por comparación con un densímetro digital para medición estática.), Calibración de densímetros digitales para medición estática por comparación con materiales de referencia, Determinación de densidad de líquidos). 10. Nombre: Sevilla García José Ángel Vigencia a partir del: Codificación: ETDN-007-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Densidad Calibración de densímetros digitales para medición estática, Calibración de densímetros de inmersión. Comparación por el método de Cuckow, Calibración de densímetros digitales para medición dinámica, Calibración de densidad de Página 5 de 51

6 C.2 DIMENSIONAL líquidos utilizando un densímetro de frecuencia, Calibración de densidad de líquidos utilizando un sólido patrón. 1. Nombre: Álvarez Armas Marco Antonio Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-011-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Dimensional, Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Anillo patrón cilíndrico liso, Diámetro de esfera patrón, Redondez de esfera patrón, Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Criba o tamiz, Patrón para paso de cuerdas, Regla patrón, Escantillón angular, Medición de penetrador de dureza, Medidor de espesores por ultrasonido, Medidor de espesores por campo magnético o electromagnético (corrientes de Eddy), Detector de fallas por ultrasonido, Medidor de espesores por efecto Hall, Comparador óptico, Microscopio, Microscopio con analizador de imágenes, Regla graduada, Cinta de medición y flexómetro, Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser), Cuenta metro, Equipo de Ultrasonido Médico de diagnóstico, Sistema Horizontal de Medición, Sistema de visión, Odómetro. 2. Nombre: Arizmendi Apango Jesús Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-039-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Verificación del desempeño de CMM (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Verificación del desempeño de Brazo articulado (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser). 3. Nombre: Ayala Gutiérrez Guillermo Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-021-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Instrumentos industriales (Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de micrómetro para interiores, Calibración de micrómetro para profundidades, Calibración de indicadores de carátula, Calibración de Indicadores de control y Calibración de calibradores de indicadores) Máquinas de medición por coordenadas (Verificación del desempeño de máquinas de medición por coordenadas). 4. Nombre: Cerón Toledano María de los Dolores Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-026-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Indicador de carátula (vástago recto), Regla graduada, Cinta de medición y flexómetro. 5. Nombre: Cruz Angulo Maximino Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-040-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Diámetro de esfera patrón, Redondez de esfera patrón, Rugosidad de esfera patrón (Ra), Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Comparador óptico, Patrón de longitudes fijas, Verificación del desempeño de CMM (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Verificación del desempeño de Brazo articulado (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Rugosímetro de palpador, Medición de rugosidad, Medición de formas geométricas (rectitud, redondez, paralelismo, planitud, cilindricidad), Medición de perfil, Medidores de perfil o Perfilómetro, Máquina de medición de formas geométricas, Medición con CMM, Patrón de longitudes fijas, Patrón de Rugosidad, Medición con brazo articulado. Página 6 de 51

7 6. Nombre: Delgado Briseño María Cecilia Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-029-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto), Indicador de carátula tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Perno patrón recto y roscado, Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Criba o tamiz, Patrón para paso de cuerdas, Regla patrón, Medidor de espesores por ultrasonido, Detector de fallas por ultrasonido, Comparador óptico, Microscopio, Regla graduada, Cinta de medición y flexómetro, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Maestro de alturas, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloque patrón corto, Bloque patrón largo, Verificación del desempeño de CMM (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Rugosímetro de palpador, Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser), Nivel, Comparador de bloques patrón, Medición de rugosidad, Medición de formas geométricas (rectitud, redondez, paralelismo, planitud, cilindricidad), Plano óptico y paralela óptica, Escuadra, Medición de perfil, Reglas de rectitud, Medición con CMM, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Sistema Horizontal de Medición, Sistema de visión. 7. Nombre: Díaz Orgaz Mario Dagoberto Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-012-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto),indicador de carátula tipo palanca, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Perno y tampón patrón cilíndrico liso, Anillo patrón cilíndrico liso, Perno patrón recto y roscado, Anillo patrón cónico liso, Anillo patrón rosca cónica, Perno patrón cónico, Perno de rosca cónico, Patrón de tipo horquilla, Diámetro de esfera patrón, Redondez de esfera patrón, Rugosidad de esfera patrón (Ra), Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Criba o tamiz, Patrón para paso de cuerdas, Regla patrón, Escantillón angular, Medición de penetrador de dureza, Medidor de espesores por ultrasonido, Medidor de espesores por campo magnético o electromagnético (corrientes de Eddy), Detector de fallas por ultrasonido, Medidor de espesores por efecto Hall, Comparador óptico, Microscopio, Regla graduada, Cinta de medición y flexómetro, Patrón para indicadores, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloque patrón corto, Bloque patrón largo, Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Rugosímetro de palpador, Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser), Nivel, Comparador de bloques patrón, Cuenta metro, Medición de rugosidad, Medición de formas geométricas (rectitud, redondez, paralelismo, planitud, cilindricidad), Plano óptico y paralela óptica, Teodolito, Escuadra, Reglas de rectitud, Medidores de perfil o Perfilómetro, Nivel geodésico, Nivel láser rotacional, Mira telescópica, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Patrón de Rugosidad, Sistema Horizontal de Medición, Plomada óptica, Medición por topometría, Sistema de visión, Odómetro. 8. Nombre: Escobedo Serrano Alfredo Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-030-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Instrumentos a trazos (Calibración de cintas métricas, Calibración de flexómetros, Calibración de reglas) Instrumentos industriales, (Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales, Calibración de medidores de profundidad, Calibración de medidores de alturas, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de micrómetro para profundidades, Calibración de indicadores de carátula, Calibración de Indicadores de control, Calibración de medidores de espesor) Máquinas de medición por coordenadas (Medición con máquina de medición por coordenadas). Página 7 de 51

8 9. Nombre: García Zúñiga Estela Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-054-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, (Calibrador, Micrómetro de exteriores, Micrómetro de interiores con dos superficies de contacto, Micrómetro de interiores con tres superficies de contacto, Micrómetro de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidores de profundidad, Indicador de vástago recto, Indicador de tipo palanca. 10. Nombre: Gutiérrez Munguía Martha Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-027-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Calibres (Calibración de pernos patrón) Interferometría (Calibración de planos y paralelas ópticas) Instrumentos industriales (Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales, Calibración de medidores de alturas, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de micrómetro para interiores, Calibración de indicadores de carátula y Calibración de calibradores de indicadores). 11. Nombre: Jasso Cortes Jorge Alberto Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-047-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Medidor de espesores con indicador, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto), Indicador de carátula tipo palanca, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Barra patrón (para ajuste a cero), Medición con comparador óptico, Regla patrón, Comparador óptico, Regla graduada, Bloque patrón corto, Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Medición de formas geométricas (rectitud, redondez, paralelismo, planitud, cilindricidad), Escuadra, Medición con CMM. 12. Nombre: Labastida Jiménez Hugo Daniel Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-045-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto), Indicador de carátula tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Barra patrón (para ajuste a cero), Anillo patrón cilíndrico liso, Patrón de radios, Regla patrón, Comparador óptico, Microscopio, Regla graduada, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Maestro de alturas, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloque patrón corto, Bloque patrón largo, Mesas de planitud, Rugosímetro de palpador, Comparador de bloques patrón, Medición de rugosidad, Escuadra, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Patrón de Rugosidad, Sistema de visión Nombre: Martínez Saucedo Antonio Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-046-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto), Indicador de carátula tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Barra patrón (para ajuste a cero), Anillo patrón cilíndrico liso, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Maestro de alturas, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloque patrón corto, Bloque patrón largo, Mesas de planitud, Rugosímetro de palpador, Comparador de bloques patrón, Medición de rugosidad, Escuadra. Página 8 de 51

9 14. Nombre: Merlo Cazares José Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-042-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, - Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de medición, Micrómetro de interiores con tres superficies de medición, Micrómetro para medición de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidor de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistema vertical de medición, Patrón de espesor (Laina), Indicador de carátula (vástago recto), Indicador de carátula tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de medición, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Perno y tampón patrón cilíndrico liso, Anillo patrón cilíndrico liso, Perno patrón recto y roscado, Anillo patrón recto y roscado, Anillo patrón cónico liso, Anillo patrón rosca cónica, Perno patrón cónico, Perno de rosca cónico, Patrón de tipo horquilla, Diámetro de esfera patrón, Redondez de esfera patrón, Rugosidad de esfera patrón (Ra), Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Criba o tamiz, Patrón para paso de cuerdas, Regla patrón, Escantillón angular, Medición de penetrador de dureza, Medidor de espesores por ultrasonido, Medidor de espesores por campo magnético o electromagnético (corrientes de Eddy), Detector de fallas por ultrasonido, Medidor de espesores por efecto Hall, Comparador óptico, Microscopio, Microscopio con analizador de imágenes, Regla graduada, Cinta de medición y flexómetro, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Maestro de alturas, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloque patrón corto, Bloque patrón largo, Verificación del desempeño de CMM (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Rugosímetro de palpador, Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser), Nivel, Comparador de bloques patrón, Cuenta metro, Medición de rugosidad, Medición de formas geométricas (rectitud, redondez, paralelismo, planitud, cilindricidad), Teodolito, Escuadra, Reglas de rectitud, Medidores de perfil o Perfilómetro, Medición con CMM, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Patrón de Rugosidad, Sistema Horizontal de Medición, Sistema de visión, Odómetro. 15. Nombre: Merlo Cazares Yamir Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-056-LC Áreas o personas acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional (Calibrador, Micrómetro para medición de exteriores, Medidor de alturas, Medidor de espesores con indicador, Indicador de vástago recto, Indicador de tipo palanca). 16. Nombre: Muñoz Medina Pablo Eugenio Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-048-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional (Calibrador, Micrómetro de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de profundidad, Indicador de vástago recto, Indicador de tipo palanca, Comparador óptico, CMM verificación (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Rugosímetro de palpador, Medidores de contorno (Perfilómetros), Sistemas de visión). 17. Nombre: Navarrete Herrera Guillermo Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-053-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, (Calibrador, Micrómetro de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de contacto, Micrómetro de interiores con tres superficies de contacto, Micrómetro de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidores de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistemas verticales de medición, Patrón de espesor (Laina), Medidores de alturas de alta exactitud, Indicador de vástago recto, Indicador de tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de contacto, Cabeza micrométrica, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Perno y tampones patrón cilíndrico liso, Anillo patrón cilíndrico liso, Perno patrón de rosca recto, Anillo patrón de rosca recto, Anillos patrón cónico liso, Anillos patrón rosca cónica, Perno patrón cilíndrico cónico, Perno de rosca cónico, Patrón de tipo horquilla, Diámetro de esfera patrón (Redondez y rugosidad (Ra)), Patrón de radios, Reglas graduadas, Cintas graduadas y flexómetros, Patrón para indicadores, Maestro de alturas, Patrón para micrómetro de profundidad, Bloques patrón largos, CMM verificación (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Máquina unidimensional, Niveles, Medición de rugosidad, Plano óptico y paralelas ópticas, Medición de formas geométricas, Patrón para indicadores, Teodolitos, Escuadras, Medición de perfil, Reglas de rectitud, Medidores de contorno (Perfilómetros), Máquina de medición de formas geométricas, Niveles geodésicos, Niveles rotacionales Página 9 de 51

10 láseres, Miras telescópicas, Medición con CMM, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Sistema Horizontal de Medición, Plomada óptica, Sistemas de visión, Medición con brazo articulado. 18. Nombre: Pichardo Vega René Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-049-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Amplificadores ópticos (Calibrador, Micrómetro de exteriores, Medidor de alturas, Micrómetro de interiores con dos superficies de contacto, Micrómetro de interiores con tres superficies de contacto, Micrómetro de profundidad, Medidor de espesores con indicador, Medidores de profundidad, Cabeza micrométrica, Sistemas verticales de medición, Patrón de espesor (Laina), Medidores de alturas de alta exactitud, Indicador de vástago recto, Indicador de tipo palanca, Palpador con amplificador electrónico, Medidor de interiores con indicador, Medidor de agujeros con dos superficies de contacto, Cabeza micrométrica, Medición de longitudes con máquina unidimensional, Barra patrón (para ajuste a cero), Perno y tampones patrón cilíndrico liso, Anillo patrón cilíndrico liso, Perno patrón de rosca recto, Anillo patrón de rosca recto, Diámetro de esfera patrón, Patrón de radios, Patrón para paso de cuerdas, Medidor de espesores por ultrasonido, Medidor de espesores por magnetismo, Detector de fallas por ultrasonido, Medidor de espesores de recubrimientos, Comparador óptico, Microscopios de medición, Reglas graduadas, Cintas graduadas y flexómetros, Patrón para indicadores, Longitudes fijas, Maestro de alturas, Mesas de planitud, Goniómetro (transportador de ángulos), Máquina unidimensional, Medición de rugosidad, Plano óptico y paralelas ópticas, Máquina de medición de formas geométricas, Patrón para indicadores, Patrón de longitudes fijas, Sistema Horizontal de Medición. 19. Nombre: Ponce Arredondo Javier Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-043-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Calibración de amplificadores ópticos, Calibración de comparadores ópticos con escalas de vidrio, Calibración de comparadores ópticos, escala angular, Calibración de cintas métricas, Calibración de flexómetros, Calibración de reglas (de baja exactitud) Calibración de micrómetro para exteriores. 20. Nombre: Rius Hernández María del Pilar Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-038-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Instrumentos industriales, Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales, Calibración de medidores de profundidad, Calibración de medidores de alturas, Calibración de micrómetro para exteriores, Calibración de micrómetro para interiores, Calibración de micrómetro para profundidades, Calibración de indicadores de carátula, Calibración de Indicadores de control, Calibración de medidores de espesor. 21. Nombre : Sandoval Valero José Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-041-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional - Medición de longitudes con máquina unidimensional, Perno y tampón patrón cilíndrico liso, Anillo patrón cilíndrico liso, Diámetro de esfera patrón, Redondez de esfera patrón, Rugosidad de esfera patrón (Ra), Patrón de radios, Medición con comparador óptico, Comparador óptico, Microscopio, Microscopio con analizador de imágenes, Regla graduada, Patrón de longitudes fijas, Maestro de alturas, Verificación del desempeño de CMM (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Verificación del desempeño de Brazo articulado (agregar tipo de sensor, contacto o sin contacto), Rugosímetro de palpador, Máquina unidimensional (bloques patrón o interferómetro láser), Medición de rugosidad, Medición de perfil, Medición con CMM, Patrón de longitudes fijas, Patrón de Rugosidad, Medición por topometría, Sistema de visión, Medición con brazo articulado. 22. Nombre: Silva García Miguel Ángel Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-044-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional (Calibración de bloques patrón cortos (Calibración de bloques patrón cortos contra bloques del mismo nominal, Calibración de bloques patrón cortos contra bloques de diferentes nominales), Instrumentos industriales (Calibración de calibradores con vernier, carátula y digitales), Calibración de indicadores (Calibración de indicadores de carátula, Calibración de Indicadores de control)). Página 10 de 51

11 23. Nombre: Viliesid Alonso Miguel Vigencia: Codificación: ETDI-018-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional (Calibrador, micrómetro de exteriores, indicador de vástago recto, indicador de tipo palanca, reglas graduadas, cintas graduadas y flexómetros)). 24. Nombre: Zeleny Vázquez José Ramón Vigencia a partir del: Codificación: ETDI-017-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dimensional, Bloques patrón cortos (Calibración de bloques patrón cortos contra bloques del mismo nominal y Calibración de bloques patrón cortos contra bloques de diferentes nominales) Bloques patrón largos (Calibración de bloques patrón largos por comparación con bloques de la misma longitud en máquina de medición unidimensional y Calibración de bloques patrón largos con bloques de diferente longitud en máquina de medición unidimensional) Máquinas de medición por coordenadas (Verificación del desempeño de máquinas de medición por coordenadas, Medición con máquina de medición por coordenadas y Calibración de MMC con interferómetro). C.3 DUREZA 1. Nombre: Esparza Ramírez Alfredo Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-010-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza (Dureza rockwell (Calibración de máquinas de medición de dureza rockwell. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza rockwell. Método indirecto, Calibración de bloques de dureza rockwell), Dureza brinell (Calibración de máquinas de medición de dureza brinell. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza brinell. Método indirecto, Calibración de bloques de dureza brinell), Dureza vickers (Calibración de máquinas de medición de dureza vickers. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza vickers. Método indirecto, Calibración de bloques de dureza vickers), Dureza micro vickers/knoop (Calibración de máquinas de medición de dureza micro vickers/knoop. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza micro vickers/knoop. Método indirecto, Calibración de bloques de dureza micro vickers/knoop), Dureza shore(calibración de máquinas de medición de dureza shore. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza shore. Método indirecto), Dureza IRHD (Calibración de máquinas de medición de dureza IRHD. Método directo, Calibración de máquinas de medición de dureza IRHD. Método indirecto)). 2. Nombre: Gómez Jasso Olimpo Manuel Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-002-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza (Dureza Rockell. Materiales metálicos (Calibración de máquinas de dureza Rockwell. Método indirecto) Dureza Brinell. Materiales metálicos (Calibración de máquinas de dureza Brinell. Método indirecto) Dureza Vickers. Materiales metálicos (Calibración de máquinas de dureza Vickers, Método indirecto, Dureza micro Vickers/Knoop. Materiales metálicos y Calibración de máquinas de dureza micro Vickers/Knoop. Método indirecto) Dureza Shore. Gomas (Calibración de máquinas de dureza Shore. Método indirecto)). 3. Nombre: Guizar López Hermosa Alberto Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-006-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza, Dureza Rockell. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza Rockwell. Método directo, Calibración de máquinas de dureza Rockwell. Método indirecto, Dureza Brinell. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza Brinell. Método directo, Calibración de máquinas de dureza Brinell. Método indirecto, Dureza Vickers. Materiales metálicos. Calibración de máquinas de dureza Vickers. Método directo, Calibración de máquinas de dureza Vickers. Método indirecto, Dureza micro Vickers/Knoop. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza micro Vickers/Knoop. Método directo, Calibración de máquinas de dureza micro Vickers/Knoop. Método indirecto. Página 11 de 51

12 4. Nombre: Merlo Cazares José Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-009-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza, Calibración de máquinas de medición de dureza Rockwell. Método indirecto, Calibración de máquinas de medición de dureza Brinell. Método indirecto, Calibración de máquinas de medición de dureza Vickers. Método indirecto, Calibración de máquinas de medición de dureza Knoop. Método indirecto, Calibración de máquinas de medición de dureza Shore. Método directo. 5. Nombre: Merlo Cazares Yamir Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-012-LC Áreas o personas acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza Dureza Rockwell (Calibración de máquinas de dureza Rockwell. Método indirecto), Dureza Shore (Calibración de máquinas de dureza Shore. Método directo). 6. Nombre: Ponce Arredondo Javier Vigencia a partir del: Codificación: ETDZA-008-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Dureza, (.Dureza Rockell. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza Rockwell. Método indirecto, Dureza Brinell. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza Brinell. Método indirecto, Dureza Vickers. Materiales metálicos, Calibración de máquinas de dureza Vickers. Método indirecto, Calibración de máquinas de dureza micro Vickers/Knoop. Método indirecto, Dureza Shore. Gomas, Calibración de máquinas de dureza Shore. Método directo. C.4 ELÉCTRICA 1. Nombre: Avilés Castro Carlos David Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-046-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Calibración de calibradores y multímetros (Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C.), Media incertidumbre: 5 ½ dígitos y 6 ½ dígitos(1.3.1 Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C.), Baja incertidumbre: 7 ½ dígitos y 8 ½ dígitos(tensión en C.C.( Tensiones < 100 Mv, Tensiones de 100 mv a 100 V, Tensiones > 100 V y hasta 1000 V)), Patrones(Calibración de Patrones(Referencias Zener (1,018 V, 1V y 10 V))), Tensión eléctrica continua (Generación y medición), Simulación de temperatura (Generación y medición)). 2. Nombre: Callejas Sánchez Erasto Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-040-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Tensión eléctrica alterna, Tensión eléctrica continua, Resistencia eléctrica, Corriente eléctrica alterna, Corriente eléctrica continua, Potencia eléctrica alterna, Simulación de temperatura). 3. Nombre: Campos Hernández Sara Andrea Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-045-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Calibración de calibradores y multímetros (Alta incertidumbre: (4 4/5, 4 ¾, 4 ½ dígitos y menores y de lectura analógica), Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C., Media incertidumbre: 5 ½ dígitos y 6 ½ dígitos(tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C.)), Baja incertidumbre: 7 ½ dígitos y 8 ½ dígitos (Tensión en C.C.( Tensiones < 100 mv, Tensiones de 100 mv a 100 V, Tensiones > 100 V y hasta 1000 V), Tensión en C.A.( Tensiones en C.A. debajo de 100 mv ( desde 40 Hz hasta 100 khz), Tensiones entre 100 mv y 1000 V ( desde 40 Hz hasta 100 khz), Frecuencias de 100 khz hasta 1 MHz), Corriente en C.C.( Corrientes de 100 na a 1 µa, Corrientes de 10 µa a 1ª, Corrientes de 1A a 20 A), Corriente en C.A.( Corrientes de 1 ma a 20 A, Corrientes de 40 Hz a 5 khz.)), Patrones(Patrones de transferencia CA-CC en tensión, Patrones de transferencia CA-CC en corriente), Tensión eléctrica alterna (Generación y medición), Tensión eléctrica continua (Generación y medición), Corriente eléctrica alterna (Generación y medición), Corriente eléctrica continua (Generación y medición)). Página 12 de 51

13 4. Nombre: Campos Montiel Sergio Antonio Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-043-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Calibración de medidores de ángulo de fase (Baja exactitud: 0,01º, Alta exactitud: 0,001º), Tensión eléctrica alterna (Generación y medición), Energía eléctrica alterna (Generación y medición), Ángulo de fase (Generación y medición), Corriente eléctrica alterna (Generación y medición), Potencia eléctrica alterna (Generación y medición)). 5. Nombre: Cárdenas Rodríguez Luis Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-032-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica; Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C. Potencia y energía en C.C. y en C.A., Capacitancia, Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C., Potencia y energía en C.C. y en C.A., Capacitancia, Calibradores electrónicos de indicadores de temperatura, Baja incertidumbre (> 1%) Media incertidumbre: hasta 250 mw/w, en potencia activa y reactiva., Bajos valores < 10 Ω por paso, Valores medios de 10 Ω a 100 kω por paso, Altos valores > 100 k Ω hasta 1 GΩ por paso, Generadores y medidores hasta 100 kv, Divisores resistivos hasta 100 kv, Generadores y medidores hasta 100 kv, Divisores capacitivos hasta 100 kv, Alta corriente continua. Calibración de: Generadores y medidores de 20 A a A, Alta corriente alterna. Calibración de: Generadores y medidores de 20 A a A. 6. Nombre: Carrillo Solís Oscar Alberto Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-042-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica (Calibración de calibradores y multímetros: Alta incertidumbre: (4 4/5, 4 ¾, 4 ½ dígitos y menores y de lectura analógica), Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C.A., resistencia en C.C, Capacitancia, Media incertidumbre: 5 ½ dígitos y 6 ½ dígitos, Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C, Capacitancia, Calibradores electrónicos de indicadores de temperatura, Tensión en C.C: Tensiones < 100 mv, Tensiones de 100 mv a 100 V, Tensiones > 100 V y hasta 1000 V; Tensión en C.A: Tensiones en C.A. debajo de 100 mv ( desde 40 Hz hasta 100 khz), Tensiones entre 100 mv y 1000 V ( desde 40 Hz hasta 100 khz), Frecuencias de 100 khz hasta 1 MHz; Corriente en C.C: Corrientes de 10 µa a 1ª, Corrientes de 1A a 20 A; Corriente en C.A: Corrientes de 1 ma a 20 A, Corrientes de 40 Hz a 5 khz; Resistencia en C.C: Resistencia < a 10 Ω, Resistencia de 10 Ω a 100 kω, Resistencia > 100 kω hasta 100 MΩ; Calibración de puentes de impedancia (capacitancia, inductancia y resistencia en C.A.): Media incertidumbre (> 200 x 10-6); Calibración de décadas: Décadas de resistencia, Bajos valores < 10 Ω por paso, Valores medios de 10 Ω a 100 kω por paso, Décadas de capacitancia, Bajo valor (de 1 pf a 1 nf por paso); Valor medio ( de 1 nf a 1 µf por paso); Alta tensión en C.C. Calibración de: Generadores y medidores hasta 100 kv; Alta tensión en C.A. Calibración de: Generadores y medidores hasta 100 kv; Tensión eléctrica alterna (Generación y medición); Tensión eléctrica continua (Generación y medición); Resistencia eléctrica (Generación y medición); Corriente eléctrica alterna (Generación y medición); Corriente eléctrica continua (Generación y medición); Simulación de resistencia eléctrica (Generación y medición); Alta tensión eléctrica alterna (Generación y medición); Alta tensión eléctrica continua (Generación y medición); Simulación de temperatura (Generación y medición)). 7. Nombre: Chávez Guevara Juan Carlos Vigencia a partir del: Codificación: ETEL-041-LC Áreas o Personas Acreditadas: Laboratorios de Calibración, Eléctrica; Calibración de calibradores y multímetros, Alta incertidumbre: (4 4/5, 4 ¾, 4 ½ dígitos y menores y de lectura analógica), Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C., Potencia y energía en C.C. y en C.A., Capacitancia, Media incertidumbre: 5 ½ dígitos y 6 ½ dígitos, Tensión en C.C y C.A., corriente en C.C. y C. A., resistencia en C.C., Potencia y energía en C.C. y en C.A., Capacitancia, Calibradores electrónicos de indicadores de temperatura, Resistencia en C.C., a) Resistencia < a 10 Ω, b) Resistencia de 10 Ω a 100 kω, c) Resistencia > 100 kω hasta 100 MΩ, Wattmetros y watthorímetros, Media incertidumbre: hasta 250 mw/w, en potencia activa y reactiva., Baja incertidumbre: menor que 100 mw/w, en potencia y energía., Calibración de medidores de ángulo de fase, Baja exactitud: ± 0,01º, Alta tensión en C.C. Calibración de: Generadores y medidores hasta 100 kv, Página 13 de 51