Microscopía. Microscopios de barrido

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Transcripción:

SEM Zeiss DSM 950 Microscopía Microscopios de barrido Coste /hora ( ) 20 60 Polaroid (unidad) ( ) 8 12 FE-SEM Hitachi S-4700 Coste /hora ( ) 40 100 Hitachi H-7100 (125kV) Microscopio de transmisión Preparación de muestra en polvo ( ) 12 25 Pulidora cóncava (muestra) ( ) 3 6 Adelgazador iónico (hora) ( ) 9 20 Coste /hora ( ) 25 100 Placa ( ) 8 15 Positivado (unidad) ( ) 1.50 5 Nanotec Cervantes Microscopio AFM Sesión de 4h ( ) 35 60 Hora Extra ( ) 7 12 Microscopio RAMAN CONFOCAL acoplado AFM WITec / ALPHA 300AR. Coste / Hora ( ) 25 100 En el coste no están incluidas las puntas de AFM y preparación de muestras.

Laboratorio de Difracción de Rayos X Difractómetros de polvo Bruker D8 Advance Coste/hora ( ) 5 15 Ensayo de larga duración ( ) 15 50 Laboratorio de Caracterización de Polvos Cerámicos Precios /muestra Superficie específica BET (1 punto) 20 40 Distribución de tamaño de partícula 15 20 Picnometría de helio 10 20 Porosimetría de Hg 30 75 Adsorción de N 2 (ASAP 2020) Precios /muestra Superficie específica (1 punto) 20 40 Superficie específica (multipunto) 30 60 Adsorción de N 2 60 120

Laboratorio de Análisis Térmico Análisis Térmico Diferencial y Termogravimétrico (ATD-TG) ATD/TG Coste /muestra ( ) 55 125 Ensayo de larga duración /muestra ( ) 100 200 Limpieza de crisol (ensayo con fusión) 4 15 Calorimetría Diferencial de Barrido y Análisis Termogravimétrico (DSC-TG) Modo ATD Coste /muestra ( ) 65 135 Ensayo de larga duración /muestra ( ) 110 210 Limpieza de crisol (ensayo con fusión) 4 15 Modo DSC Coste /muestra ( ) Consultar Microscopia de Calefacción Aire / Soporte Al 2 O 3 35 250 Aire / Lámina de Pt 45 300 Ar ó N 2 / Soporte Al 2 O 3 45 275 Ar ó N 2 / Lámina de Pt 55 325 Dilatometría Coste/muestra ( ) 35 140

Difusividad Térmica (Pulso láser) 25 C 100 350 25-500 C (3 puntos) 200 600 25-1000 C (6 puntos) 300 800 Punto adicional (25-1000 C) 100 /punto 350 /punto

Laboratorio de Análisis Químico Vía Húmeda Preparación de muestra Molienda 10 20 Disolución 6 12 Ataque sulfofluorhídrico 15 30 Disgregación alcalina 15 30 Determinaciones Análisis cualitativo ICP-OES 7 10 Análisis cuantitativo ICP-OES 30M+5E 60M+10E Análisis cuantitativo trazas ICP-OES 30M+10E 60M+20E Fotometría de llama (alcalinos) 30M+5E 60M+10E Análisis gravimétrico de sílice 15 65 Análisis volumétrico de boro 20 70 Potenciometría ph F - 20 Cl - 20 100 100 Pérdida por calcinación 10 15 Pb y Cd solubles en vajillas - 100 Sales solubles totales - 40 Otros ensayos Consultar M = número de muestras E = número de elementos a analizar Coste adicional por uso de patrones de Au, Pt o tierras raras por cada curva de calibración realizada: 15

Fluorescencia de Rayos X Coste /ensayo ( ) Análisis con curva de calibrado 25 180 Análisis cualitativo 60 240 Elementos traza 140 300 Muestras especiales Consultar

Laboratorio de Espectroscopias UV-VIS-IRC Coste /muestra ( ) 15 50 Análisis de color, índice de blancura, parámetros de emisividad, transmisión energética y luminosa, etc Precio unitario por propiedad Caracterización de acristalamientos y otros ensayos 50 180 Según presupuesto Estos precios no incluyen la preparación de muestras

Laboratorio de corte y preparación metalográfica Pulido /muestra UAM, CSIC, OPIS Dureza Baja/Media 20 50 Dureza Alta 40 100 Vidrios 20 50 Embutido a vacío 2 5 Ataque químico 2 5 Muestras especiales Consultar Corte fino /muestra UAM, CSIC, OPIS Dureza Baja/Media 10 30 Dureza Alta 30 75 Muestras especiales Consultar Corte (medio y grueso) y Rectificado /hora UAM, CSIC, OPIS Corte grueso 20 40 Corte medio 40 80 Rectificado 25 40

Laboratorio de Ensayos Mecánicos Precio por sesión ( /día) UAM, CSIC, OPIS Ensayos mecánicos a temperatura ambiente (Instron) 45 100 Ensayos mecánicos a temperatura ambiente (Microtest) 45 100 Grindosonic 10 25 Ensayos mecánicos a alta temperatura Consultar Spark Plasma Sintering (Horno SPS) UAM, CSIC, OPIS /muestra 175 500 Viscosímetro de Alta Temperatura Coste /ensayo ( ) Zona rotación (baja ) 300 900 Zona estirado (alta ) 300 600 Curva completa 400 1200 Análisis de N 2 /O 2 (LECO)

Coste /muestra ( ) 45 150 FTIR con ATR y Microscopio Coste /muestra ( )* 15 45 Preparación de pastilla de KBr 8 25 Perfiles de composición, análisis y seguimiento de síntesis, etc. Según presupuesto * modos transmisión, absorción o ATR; el coste del espectro no incluye la preparación de muestras en KBr ni la interpretación del mismo Rugosímetro Coste /hora ( ) 15 55 Perfilómetro Coste /hora ( ) 15 55 Elipsometría Espectral Coste /muestra *( ) 30 100 Curvas adsorción/deserción y muestras especiales Según presupuesto

*incluye la modelización, se dan como resultados el espesor e índice de refracción

Ángulo de Contacto y Tensión Superficial Ángulo de contacto. Coste/muestra ( ) 15 50 Tensión superficial. Coste/muestra ( ) Según presupuesto Laboratorio de Caracterización Eléctrica Coste /ensayo ( ) UAM, CSIC, OPIS Medida de la rupture dieléctrica 25 75 Medida de la conductividad eléctrica a temperatura ambiente Medida de la conductividad en función de la temperatura 25 75 125 375 Caracterización piezoeléctrica 75 225 Caracterización dieléctrica en función de la temperatura 75 225