TRABAJO DEL ALUMNO DURANTE LA SEMANA HORAS PRESENCIALES. Estudio de bibliografía recomendada, consulta de

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1 SEMANA SESIÓN DENOMINACIÓN ASIGNATURA: Técnicas de COORDINADOR: Francisco Javier González Benito POSTGRADO: MÁSTER UNIVERSITARIO EN Ciencia e Ingeniería de Materiales Profesores/as: Carmen Ballesteros, Beatriz Galiana Blanco, Dania Olmos Díaz, Alejandro Várez Álvarez, Fco. Javier González Benito ECTS: 6 CUATRIMESTRE: CRONOGRAMA DE LA ASIGNATURA (versión detallada) 1 ( ) ( ) ( ) 1 3 DESCRIPCIÓN DEL CONTENIDO DE LA SESIÓN la como técnicas de Caracterización de Materiales. óptica. Confocal. GRUPO (marcar ) Indicar espacio Necesario distinto aula (aula informática, audiovisual, etc..) 1 DESCRIPCIÓN TRABAJO DEL ALUMNO DURANTE LA SEMANA HORAS PRESENCIALES 1 HORAS TRABAJO Semana Máimo 7 H PROFESOR/A 1,5 4 Fco. Javier González Benito 1,5 4 Fco. Javier González Benito 1,5 4 Fco. Javier González Benito

2 3 ( ) 3 ( ) 4 (0-0-18) 4 (1-0-18) 5 (7-0-18) Casos prácticos sobre microscopía óptica y confocal la óptica electrónica. Descripción del microscopio electrónico de transmisión. Formación de imagen en el Microscopio electrónico de transmisión. Teoría cinemática y dinámica del contraste. Contraste de defectos en estructuras cristalinas la alta resolución. Cálculo de imagen. Preparación de trabajo en grupo y eposición sobre un artículo de investigación 1,5 6 Fco. Javier González Benito Carmen Ballesteros 1,5 5 Carmen Ballesteros Carmen Ballesteros 1,5 5 Carmen Ballesteros

3 5 (8-0-18) 6 ( ) 6 ( ) 7 ( ) la microscopía de en transmisión. STEM EELS imágenes contraste número atómico. e con en la Microscopia Barrido. Descripción del microscopio electrónico de Barrido. Detectores Efecto Túnel. 1,5 5 Carmen Ballesteros 1,5 5 Carmen Ballesteros 1,5 5 Agustina Asenjo 3

4 7 ( ) 8 ( ) 9 ( ) ( ) 16 Formación de imagen. Otros modos de contraste (AFM). Principales modos de operación. Instrumentación y modos básicos de operación. Aspectos prácticos de la Fuerza Atómica. l microanálisis por Rayos-. Generación de Rayos-. Medida de rayos- (Detectores). Aspectos geometricos 1,5 4 Dania Olmos 4

5 10 ( ) 11 ( ) 11 ( ) 1 ( ) 1 ( ) Microscopia de campos eléctricos y magnéticos. Analisis cualitativo. Artefactos Espectrales. Analisis cuantitativo. Métodos corrección infrarroja, Raman fluorescencia. de y TEM (I) SEM (I) AFM (I) - Grupo 1 LABMET 1,5 4 Fco. Javier González Benito 1,5 6 Beatriz Galiana 5 Alejandro Várez 5

6 13 ( ) 13 ( ) 14 ( ) 3 4 TEM (I) AFM (I) - Grupo SEM (I) AFM (II) - TEM (II) TEM (II) LABMET LABMET LABMET 6 Beatriz Galiana 5 Alejandro Várez 6 Beatriz Galiana 6 Beatriz Galiana 6

7 14 ( ) 15 ( ) 15 ( ) 16 ( ) SEM (II) AFM (II) - AFM (III) - SEM (II) AFM (III) - SEM (III) 5 Alejandro Várez 5 Alejandro Várez TOTAL HORAS

8 Prácticas: Preparación de trabajo y eposición en grupo sobre una Confocal investigación reciente en la que se emplee microscopía confocal para el estudio de materiales Casos Prácticos: Observación de muestras deformadas: TEM (I) Contraste de dislocaciones y defectos. Análisis estructural (Diagrama de difracción de electrones, espectro de fluorescencia de rayos ). (Laboratorio) Practicas de TEM II. Electrónica de alta resolución TEM (II) (Obtención y análisis de imagen). Simulación de diagramas de difracción. Imágenes con contraste Z. (Laboratorio) Prácticas de SEM-I. Obtención de imágenes a alto vacio. SEM (I) Operaciones básicas de alineamiento, contraste brillo. Manejo de diferentes detectores. (Laboratorio) SEM (II) Prácticas de SEM-II. Obtención de imágenes de muestras aislantes. Obtención de imágenes a bajo vacio. (Laboratorio) SEM (III) Prácticas EDS-I.- Obtención de un espectro. Aspectos geométricos. Detección de artefactos espectrales. (Laboratorio) AFM (I) la. Modo de contacto y tapping (Laboratorio) AFM (II) fuerza atómica con control de la temperatura (Laboratorio) AFM (III) Caracterización mecánica por AFM (Laboratorio) 8