Madrid, 12 de Febrero de 2010.

Transcripción

1 Madrid, 12 de Febrero de CONCURSO PARA LA ADQUISICIÓN DE MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO (SEM) CON SISTEMA MICROANALIZADOR DE RAYOS-X POR DISPERSIÓN DE ENERGÍAS (EDS) PARA LA SEDE DE GETAFE DEL PARQUE CIENTÍFICO Y TECNOLÓGICO DE LA UPM (TECNOGETAFE). PLIEGO DE ESPECIFICACIONES TÉCNICAS A continuación se describe el pliego de especificaciones técnicas de MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO (SEM) CON SISTEMA MICROANALIZADOR DE RAYOS-X POR DISPERSIÓN DE ENERGÍAS (EDS) necesario para TECNOGETAFE. El equipo debe poder realizar la observación y caracterización superficial de materiales inorgánicos, entregando información morfológica y estructural del material analizado. El suministro requerido estará integrado por: 1º Características Técnicas: a) Microscopio electrónico de barrido 1.- Características generales 2.-Detectores 3.-Goniómetro 4.-Sistema de lentes 5.-Consola informática 6.-Sistema de vacío 7.-Accesorios 8.-Valoración b) Sistema de Microanálisis de Dispersión de Energías (EDS) 1.- Características generales 2.- Valoración c) Mejoras adicionales 2º Software a) Microscopio electrónico de barrido 1.- Requisitos generales 2.- Valoración b) Sistema de Microanálisis de Dispersión de Energías (EDS) 1.- Requisitos generales 2.- Valoración 3º Documentación 4º Control de calidad y garantía de servicio 5º Presupuesto 6º Plazo de entrega 7º Garantía y mantenimiento 1º Características Técnicas:

2 Las características principales que debe presentar el equipo son las siguientes: a) Microscopio electrónico de barrido: 1. CARACTERÍSTICAS GENERALES Posibilidad de trabajos en alto y bajo vacío. Resolución garantizada de 3nm a 30kV en alto vacío. Resolución garantizada de 20nm (o inferior) a 1kV y 10nm(o inferior) a 3kV en alto vacío. Distancia de trabajo analítica para EDS de: máximo 10 mm y 35 de ángulo de toma. Posibilidad de trabajar con muestras sin ninguna preparación previa. Tensión: de 0,2kV-0,3kV hasta 30kV. Aumentos garantizados de 5x hasta x o superior. Portamuestras de tipo carrusel y multiusos de gran tamaño, para muestras grandes e irregulares. 2. DETECTORES: Detector de electrones secundarios en alto vacío. Detector de electrones retrodispersados en alto y bajo vacío, con posibilidad de tres señales (TOPO, COMPO, 3D o SHADOW). 3. GONIÓMETRO: Goniómetro con los cinco ejes (X-Y-Z-R-T) totalmente motorizados. Movimientos mecánicos de los ejes como mínimo X= 125mm, Y=100mm, Z=50. Rotación de 360 e inclinación de la lente desde, mínimo, 0 a +90. Capacidad de introducir muestras de grandes dimensiones (20 cm de diámetro o superior y 8 cm de altura o superior) y con peso hasta de 1 Kg o superior manteniendo las precisiones de los desplazamientos. Sistema de alineación y saturación automática. Control de haz para posicionamiento puntual, lineal y de área. 4. SISTEMA DE LENTES: Especificar tipo de lente condensadora. Lente con objetivo cónico. 5. CONSOLA INFORMÁTICA: Ordenador de Control: PC Pentium IV o superior de última generación con pantalla plana TFT de, al menos 19, grabador de CD/DVD. Teclado, ratón y controlador tipo joystick o similar para conseguir ajustar con precisión brillo, contraste, etc... Posibilidad de tener dos o más imágenes presentes en la pantalla de forma simultánea.

3 Archivo de imágenes en formatos JPEG, BMP, TIFF,. Almacenaje de imagen en el disco duro y posibilidad de extraerla por puertos USB. Representación gráfica de posicionamiento en el interior del portamuestras. Pseudo color y escritura sobre imagen. Zoom digital. 6. SISTEMA DE VACÍO: Sistema de control de vacío mediante software. Sistema de alto vacío limpio mediante bomba turbomolecular. Presión de trabajo desde 10 Pa(o inferior) hasta, mínimo, 270 Pa en bajo vacío. 7. ACCESORIOS: Cámaras de muestras con puertas para instalar diferentes accesorios en el futuro (WDS, EBSD, Cátodo luminiscencia, Crío Transfer, IR Cámara, etc. ) Mesa para el microscopio y ordenador. Sistema auxiliar de sputtering. 8. VALORACIÓN: 1) Se deben cumplir como mínimos indispensables todos los requisitos anteriores. 2) Se valorará que la distancia de trabajo analítica para EDS sea menor de 10mm. 3) Se valorará que la resolución a 1kV sea menor de 20nm y a 3kV menor de 10mm. 4) Se valorará tener un detector de electrones secundarios en bajo vacío. 5) Se valorará poder conseguir llegar a más de x aumentos. 6) Se valorará mayor rango de movimiento en el eje Z del goniómetro. 7) Se valorará que, en muestras de 20 cm de diámetro se obtenga un área observable mayor de 16 cm. 8) Se valorará que tenga un sistema de navegación del Stage con cámara CCD de posicionamiento para convertir imágenes tomadas en el interior del microscopio en coordenadas de movimiento. 9) Se valorará que el sistema operativo del SEM sea superior a Windows XP. 10) Se valorará tener más de dos imágenes a la vez en la pantalla del ordenador, consiguiendo ver imágenes tomadas con diferentes detectores o mezcladas. 11) Posibilidad de almacenar condiciones de utilización y coordenadas de posicionamiento y recuperación de las mismas sin límite de usuarios, posiciones y condiciones. 12) Se valorará tener una presión de trabajo mayor a 270 Pa para bajo vacío.

4 13) Se valorará incluir un cilindro de Wehnelt adicional con una o varias cajas de filamentos de Tungsteno de recambio. 14) Se valorará no necesitar suministros adicionales (refrigeración por agua, utilización de balas de gases técnicos, etc...) En caso de ser necesaria alguna especificación concreta se deberá informar en la oferta y detallar todos los suministros necesarios. 15) Se valorará que tenga un sistema que presente los errores de funcionamiento encontrados por el equipo. 16) Se valorará que el sputtering cumpla con las siguientes características: Unidad de sputtering que pueda sombrear oro, oro/paladio, platino y platino/paladio con sistema de control automático. Tamaño de cámara mínimo de 120mm de diámetro por 120 mm de altura. Controlador de espesor de alta resolución. Sistema de vacío (bomba rotatoria) con bandeja antivibratoria. Suministrar mesa para su colocación. 17) Se valorará tener un kit de mantenimiento de la columna (incluyendo herramientas, juntas, aperturas y material de limpieza). b) Sistema de Microanálisis de Dispersión de Energías (EDS): 1. CARACTERÍSTICAS GENERALES: Detector de elementos ligeros con detección del B en adelante. Libre de nitrógeno líquido, enfriado por Peltier. Cuantificación de más de 20 elementos a la vez. Resolución mínima de 129eV y área activa mínima de 20mm 2 o superior. Alta estabilidad entre 1000 y cps Procesador de pulsos de alta velocidad, hasta cps y controlador multicanal. Sistema de control para la detección y adquisición de Rayos-X. Sistema de captura de imagen para el microscopio. Fuentes de alimentación para detector y electrónica de control Ordenador de última generación con monitor de, mínimo, 19, teclado y ratón. Todo independiente del ordenador empleado para el control del SEM. Sistema operativo Windows (mínimo Windows XP) para adquisición de datos, análisis e informes más, al menos, 3 navegadores. Mesa para el sistema de microanálisis y ordenador. Todo el equipo (microscopio, EDS y ordenadores) tienen que quedar montados sobre mesas de la forma más funcional posible. 2. VALORACIÓN: Se valorará positivamente cuantificar más de 20 elementos a la vez. Se valorará positivamente que la resolución sea mayor. Se valorará positivamente tener 3 navegadores.

5 Se valorará positivamente que el conjunto de SEM y EDS quede instalado de la forma más funcional posible. Todo el equipo (SEM, EDS y ordenadores) tienen que quedar montados sobre mesas. c) Mejoras adicionales: 2ª Software: Se valorará positivamente incluir el software necesario para poder adquirir estero imágenes y reconstruir una vista en 3D. Se valorará incluir un accesorio para congelar muestras. Cualquier otra mejora que se desee realizar. Dicho equipo se instalará incluyendo el software y las licencias que sean necesarias para su utilización con todas las funcionalidades que pueda dar la instalación hardware. El software debe proporcionar: a) Microscopio Electrónico de Barrido: 1. Requisitos generales: 2. VALORACIÓN: Sistema de Navegación de la platina Software para el control del SEM y bases de datos de imágenes. Software de integración EDS Software de medida Software para generar informes Software de control de vacío Se valorará positivamente que el sistema de navegación sea sencillo de manejar y que pueda configurarse de la forma elegida por el usuario (iconos más usados). Se valorará incluir software adicional como el de control de varios canales de imagen, el de establecimiento de coordenadas de la muestra, de magnificación dual, etc... b) Sistema de Microanálisis de Dispersión de Energías (EDS): 1. Requisitos generales: Software y hardware de adquisición y procesado de imágenes del SEM Software de adquisición y procesado de mapas de Rayos-X Software de adquisición y procesado de perfiles de líneas Software y procesado de análisis de fases Software de conversión de niveles de grises a rangos de energías. Software y hardware para control de haz y posicionamiento en línea y matrices de puntos. Software de análisis cuantitativo y cualitativo. Software que permita calcular el espectro EDS basado en los parámetros seleccionados por el analista.

6 Software que permita un análisis químico cuantitativo real de Rayos-X recalculando datos básicos para corregir picos que se superpongan, fondo de Rayos-X y la matriz del ejemplo. Software para corrección de los apilamientos de picos. Software para corregir la deriva del haz durante la adquisición de los datos. Software para mapear la distribución de fases en una muestra. Software que permita exportar los datos a Windows. Posibilidad de tener un cubo de datos del espectro para poder ver varios a la vez. Se valorará positivamente. 2. VALORACIÓN: Se valorará positivamente que contenga todos los software especificados para realizar todos los análisis comentados. Se valorará positivamente que tenga un cubo de datos del espectro para poder ver varias configuraciones de diferentes software a la vez. 3ª Documentación: La oferta deberá incluir dos juegos de manuales de instrucciones. La empresa adjudicataria entregará la documentación técnica original del suministro para su uso y conservación. Se valorará la traducción al español de dichos manuales. 4ª Control de calidad y garantía de servicio: La oferta debe presentar un control de calidad del equipo y cumplir la normativa nacional y europea que le sea de aplicación. Los equipos deberán llevar, en cualquier caso, la marca CE e ir acompañados de la declaración CE de conformidad según el R.D. 1435/92 sobre seguridad de máquinas. 5ª Presupuesto: El presupuesto máximo es de sin IVA. Este presupuesto incluye transporte, embalaje, instalación, puesta a punto y formación teórica y práctica para el manejo del microscopio. A esta formación podrán asistir 5 personas durante un mínimo de 3 días. Se valorará positivamente más días de formación teórica y práctica. 6ª Plazo de entrega y lugar:

7 Debe ser de máximo 120 días desde la firma del contrato, valorándose muy positivamente compromisos de plazos de entrega más cortos. Se entregará en el Parque Científico y Tecnológico de la UPM (TECNOGETAFE) C/ Eric Kandel Getafe (Madrid) 7ª Garantía y mantenimiento: El período de garantía y mantenimiento será de 3 años (tres años) con una disponibilidad del servicio técnico de, al menos, 5 días a la semana en horario de jornada laboral. Se valorará incluir una oferta de contrato de mantenimiento que se hará efectivo a la finalización del período de garantía. El servicio post-venta debe tener técnicos cualificados para el mantenimientos del SEM y EDS. La cualificación ha de ser demostrable, indicando el número de técnicos para el equipo en España. Se valorará positivamente este aspecto. DIRECTOR DE LA ESCUELA TÉCNICA SUPERIOR DE INGENIEROS DE MINAS Fdo.: Benjamín Calvo Pérez