La gestión por la innovación tecnológica desde las patentes universitarias

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1 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012/p ARTÍCULO ORIGINAL GESTIÓN DEL CONOCIMIENTO La gestón por la nnovaón tenológa desde las patentes unverstaras Management of tehnologal nnovaton from unversty patents Antono Bernabé Zaldívar-Castro, Lerl Oonnor-Montero Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría, Cujae La Habana, Cuba E-mal: Rebdo: 16/03/2012 Aprobado: 20/04/2012 RESUMEN La esasa relevana de las patentes en la ultura nnovadora en el ámbto unverstaro latnoamerano y en partular, en Cuba, se debe en gran medda a la no ntroduón dentro del setor produtvo de las nvenones gestadas El trabajo tene omo objetvo elaborar una propuesta teóro-metodológa en la generaón de nnovaones haa los setores eonómos, desde el análss de las nvenones protegdas en el Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría (ISPJAE), en el período El resultado fundamental se entra en el desarrollo de un modelo de onordana nvenón-nnovaón on el uso de las estadístas de patentes, que nluye un rtero de toma de desones La soluón onstruda tene alta pertnena en el ISPJAE, al no dsponerse en esta nsttuón de proedmentos metodológos espeífos para la toma de desones, que permtan favoreer el desarrollo del proeso de nnovaón tenológa desde las nvenones patentadas Palabras lave: patentes, nvenón e nnovaón, modelo de onordana ABSTRACT The sare relevane of patents n the ulture of nnovaton n the ontext of Latn Ameran unverstes and partularly n Cuba, s largely due to the non-ntroduton of the engendered nventons nto the produtve setor The work ams to develop a theoretal-methodologal proposal n the generaton of nnovatons dreted to eonom setors, from the analyss of proteted nventons at the Polytehn Unversty of Havana José Antono Eheverría (ISPJAE, n ts Spansh aronym), n the perod from 1977 to 2009 The man result fouses on the development of a onordane model of nventon-nnovaton wth the use of patent statsts, nludng a rteron for deson makng The onstruted soluton has a hgh relevane n the ISPJAE, sne there are not spef methodologal proedures avalable n ths nsttuton for deson-makng, whh favor the development of the proess of tehnologal nnovaton from the patented nventons Key words: patents, nventons-nnovatons, onordane model 151

2 A B ZALDÍVAR-CASTRO, L OCONNOR-MONTERO I INTRODUCCIÓN En la atualdad se aprean ambos en la manera en que las unversdades se relaonan on la soedad En ese ontexto surge la neesdad de estudar las patentes generadas dentro de esas nsttuones, en el sentdo de la transferena de los resultados entífo-tenológos meddos por ese ndador, a los setores eonómos, para su transformaón en nnovaones tenológas Este problema es detetado espealmente en el Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría (ISPJAE) Según el Auerdo sobre los Aspetos de los Derehos de Propedad Inteletual, relaonados on el omero (TRIP S, por sus sglas en nglés), la patente puede entenderse omo el doumento que aredta el dereho exlusvo que el Estado le onede al autor o ttular de una nvenón, y que le permte explotarla e mpedr que un terero pueda utlzarla on fnes omerales sn su autorzaón durante un tempo determnado, por lo menos 20 años desde la soltud y en el terrtoro donde sea regstrada [1] Es, por lo tanto, la forma que el ordenamento jurído establee para proteger las nvenones [2] Al ofreer proteón y exlusvdad, la patente onsttuye un nstrumento políto y eonómo, uya fnaldad es alentar a los nventores a que nvertan en nvestgaón y en el trabajo de nnovaón posteror, que onsegurá que esas nvenones tengan una aplaón práta; lo que onsttuye parte de los fundamentos eonómos de las patentes Sendo así, las estadístas de patentes tenen una onsderable atenón en la lteratura espealzada, ya que onsttuyen un método valoso para medr el ambo tenológo, por su abundana, larga proyeón temporal e norporar una nformaón omplementara sobre la atvdad nventva [3] Atualmente su uso se estrutura según los nveles de análss que se queran afrontar Los estudos pueden agruparse alrededor de 3 amplos ampos de nvestgaón: el sstema legslatvo y admnstratvo de las patentes, el análss de la raonaldad eonóma del sstema de patentes, y el uso de las estadístas de patentes omo fuente de nformaón tenológa, útl para el análss eonómo; lo que genera la neesdad de nterrelaonar las patentes on los setores de la eonomía S ben exsten modelos que nterrelaonan las patentes on los setores eonómos, en la lteratura sobre el tema no es freuente enontrar un patrón de onordana de este tpo de relaón, espeífamente para las patentes unverstaras y desde las ondones de países subdesarrollados Desde esta perspetva, el trabajo tene omo objetvo elaborar una propuesta teóro-metodológa en la generaón de nnovaones haa los setores eonómos, desde el análss de las nvenones protegdas en el ISPJAE, en el período El resultado fundamental se entra en el desarrollo de un modelo de onordana nvenón-nnovaón, on el uso de las estadístas de patentes, que nluye un rtero de toma de desones, de forma tal que se logre la gestón por la nnovaón tenológa Analzar el proeso de generaón de nnovaones tenológas haa los setores eonómos desde esa perspetva, requere estableer el nvel de patentes oneddas en el ISPJAE y su asgnaón por setores de la eonomía ubana El método de asgnaón utlzado tene su orgen en la onordana de aráter probablísto, onoda omo Conordana Tenológa de Yale (YTC, por sus sglas en nglés) [4] II MÉTODOS Este aápte se estrutura en 2 partes: una relaonada on la stuaón del patentamento y su explotaón en el ISPJAE, y la otra relaonada on la Conordana de YTC, que srve de base para la propuesta El patentamento en el Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría El Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría, stuado en la Cudad Unverstara del msmo nombre, es atualmente el mayor entro de estudos unverstaros de Cuba en el ampo de la tenología Es una de las nsttuones que posee un nnegable potenal para ontrbur de forma más atva y permanente al desarrollo eonómo, vnulando el sstema entífo y tenológo on el aparato produtvo del país Es, por tanto, nevtable onsderar el tema del patentamento, más que omo una uestón de téna-jurída, desde la perspetva de la políta tenológa y de la políta unverstara [5] 152 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

3 LA GESTIÓN POR LA INNOVACIÓN TECNOLÓGICA DESDE LAS PATENTES UNIVERSITARIAS Sn embargo, el estudo realzado evdena que las nvenones patentadas por el ISPJAE entre , no atuaron omo un fator de nnovaón dentro de la eonomía ubana Al examnar la base de datos de patentes de esa nsttuón, se obtuveron los datos de la tabla 1, referdos al número de patentes del ISPJAE: soltadas, oneddas y las que han sdo explotadas por algún setor de la eonomía ubana Tabla 1: Patentes soltadas, oneddas y explotadas por años en el ISPJAE ( ) Indadores Cantdad % Patentes soltadas Patentes oneddas Patentes explotadas 6 82 Fuente: Base de datos de la OCPI 1 Como se aprea, las patentes soltadas son muhas más que las oneddas, lo que se puede atrbur a 3 runstanas dferentes: la ofna no onede la patente, porque la msma numple on algunos de los requstos mínmos de patentabldad; exste un número mportante de patentes desstdas por dferentes ausas; y varaones en la efena on que la ofna de patentes realza el trabajo, lo ual nfluye dretamente sobre la varaón anual de patentes oneddas [6] Para determnar los requstos de patentabldad, las Ofnas de Patentes realzan un examen que puede ser de forma y de fondo En el prmer aso, el análss sólo reae en los aspetos formales de la soltud, sn reparar en la novedad, n en la atvdad nventva El examen de fondo resulta más mnuoso, ya que en él los examnadores analzan el nvento, su apadad para ser patentado y s umple de forma satsfatora todos los requstos de patentabldad Ello requere de un tempo determnado (3 ó 4 años), en dependena de las araterístas de la tenología y la efena on que se reale el trabajo [7] Las patentes explotadas representan la reduda fra de 6, lo ual representa el 82 % La proteón jurída de las nvenones, generalmente obedee a la ntenón de las unversdades de lenar o transferr la nueva tenología o nvenón; de ahí que un punto de vtal mportana en el tema onssta en la neesdad de su omeralzaón La muestra de patentes oneddas al Insttuto en general y su desagregaón por las dferentes faultades, revela una marada y negatva homogenedad en uanto a su explotaón ndustral y omeralzaón, omo se observa en la tabla 2, donde tambén se han reflejado otros ndadores de nterés Tabla 2: Comportamento de las nvenones del ISPJAE en uanto a su explotaón ndustral y omeralzaón en Cuba y en el extranjero ( ) Faultades/ Indadores IEPC CxLE CxLN V N V E RIE CIE Elétra Meána Químa Cvl Arqutetura Industral Total ISPJAE OCPI: Ofna Cubana de Propedad Industral 153 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

4 A B ZALDÍVAR-CASTRO, L OCONNOR-MONTERO Donde: IEPC: Invenones puestas en explotaón produtva y omeral CxLE: Comeralzaón en el extranjero por auerdo de lena CxLN: Comeralzaón en Cuba por auerdo de lena V N: Puesta en venta en el terrtoro naonal V E: Puesta en venta en otros países RIE: Regstro de las nvenones en el extranjero CIE: Invenones oneddas en el extranjero Segudamente se argumentan estas expresones: Invenones puestas en explotaón produtva y omeral (IEPC) De las 73 nvenones patentadas, 6 se han ntrodudo en la ndustra, lo que representa el 821 % Pero s entendemos por ndustralzados aquellos nventos que se fabraron en antdades sgnfatvas, o hayan sdo utlzados de forma mportante y permanente en el proeso produtvo de un ben, de auerdo a las neesdades de la eonomía naonal; entones, exste un índe de ndustralzaón bastante margnal al onepto referdo De esta forma, el flujo de atvdad nventva resulta ser un elemento exógeno al sstema produtvo ubano Muhas de esas nvenones no son ontratadas on las empresas y no suponen una respuesta a las neesdades surgdas en ellas Eso hae aún más dfíl su ntroduón omo parte de los planes de produón De ahí que su transmsón al setor produtvo resulta as sempre nula Esa stuaón se presenta de forma dferente en los entros de nvestgaones de los Polos Centífos del país [8] Comeralzaón en el extranjero por auerdo de lena (CxLE) y Comeralzaón en Cuba por auerdo de lena (CxLN) El ttular de una patente, según establee el Dereto Ley 68, puede oneder la patente medante auerdo de lena de uso o de explotaón, a una o más personas Sn embargo, no exste en Cuba n en el extranjero, nnguna patente que se haya omeralzado por auerdo de lena Exsten 2 elementos más que resultan nteresantes Regstro de las nvenones en el extranjero (RIE) e Invenones oneddas en el extranjero (CIE) Hay dos patentes regstradas en el exteror por el ISPJAE: el prmer aso fue resultado de una nvestgaón que ondujo a la defensa del dotorado de una profesora, uyo tutor era de la antgua Unón de Repúblas Soalstas Sovétas (URSS) Así, la nvenón, además de regstrarse en Cuba, tambén se regstró en otros países del antguo ampo soalsta y fue, al msmo tempo, onedda El segundo aso es reente (del año 2009), en o-autoría on nvestgadores españoles, no se protegó en Cuba y sí en España Son grandes los ostos relaonados on la obtenón de una patente en el exteror Por ejemplo: una soltud on su traduón en Japón, puede ostar alrededor de euros y posterormente hay que pagar anualdades, respuestas a aones ofales, publaón y onesón (en el aso de Estados Undos, Chna y Australa) Los ostos de soltud son tambén muy altos, al gual que el pago de las anualdades [9] Puesta en venta en el terrtoro naonal (V N) y Puesta en venta en otros países (V E) Las patentes puestas en venta en el terrtoro naonal fueron 2 y perteneen a la Faultad de Ingenería Elétra Ambas nvenones fueron traspasadas, una al Mnstero de Cultura y la otra al Mnstero del Interor En nnguno de los 2 asos los nventores reberon ompensaón monetara alguna y fue mposble onoer el benefo eonómo que reportaron a la Unversdad Respeto a la posbldad de poner en venta en el extranjero algunas de las patentes, debe alararse que nuna se efetuó tal operaón En defntva, el entro del problema relatvo a las nvenones unverstaras está en onsegur la mplantaón de meansmos que permtan la transmsón de aquellas a la ndustra, para que ésta las ponga en explotaón; porque sn esa explotaón, la patente aree de todo sentdo La Conordana de Tenológa de Yale Unas de las dfultades enontradas en el uso de la patente omo ndador de nnovaón, es que la lasfaón utlzada para los doumentos de patentes (normalmente lasfados según rteros ténos e ngenerles), es heterogénea respeto a la que se emplea para las atvdades eonómas Esto dfulta la onstruón de ndadores tenológos basados en las patentes, que permtan relaonar la atvdad nventva on la atvdad eonóma 154 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

5 LA GESTIÓN POR LA INNOVACIÓN TECNOLÓGICA DESDE LAS PATENTES UNIVERSITARIAS Para resolver ese problema exsten 2 opones La prmera onsste en lasfar dretamente los doumentos de patentes, no sólo sguendo rteros ténos, sno tambén ordenándolos por ndustras o setores eonómos [10] En 1974, la Ofna Canadense de Propedad Inteletual (CIPO, por sus sglas en nglés), omenzó a lasfar y asgnar patentes por Setores Industrales de la Clasfaón Industral Standard (CIS) [11] Sn embargo, son poos los países dspuestos a realzar ese tpo de asgnaones, debdo a su nvel de omplejdad y elevado osto La segunda opón onsste en aprovehar la base de datos generada por la Ofna Canadense de Propedad Inteletual, para elaborar una onordana entre lases de lasfaón de patentes y los sstemas de lasfaón de las atvdades eonómas Hay que atrbur a Evenson, en la Unversdad de Yale, el prmer ntento de utlzaón de la base de datos anadense para onstrur una onordana Evenson tomó una muestra de patentes de los Estados Undos, tambén patentada en Canadá, y ontrastó la asgnaón anadense Clasfaón Industral Standard (CIS), on el sstema de Clasfaón de Patentes de los Estados Undos, dervándose así una onordana alternatva on fundamento empíro y ya fraonado, en países dstntos a Canadá Esa onordana, es onoda omo la Conordana Tenológa de Yale (YTC) [4] Esa metodología do lugar a la onoda probabldad de onordana y desde ella se desarrolló un modelo de onordana, uya araterísta entral onsste en una matrz de onversón-matrz de onordana, uyos elementos son las probabldades de dstrbuón de los grupos tenológos de la Clasfaón Internaonal de Patentes (CIP) [12], a través de las lases de los setores eonómos de la Clasfaón Industral Standard (CIS) [13] El modelo nluye un sstema operaonal, según el ual el produto de la matrz de onordana por el vetor de patentes lasfadas en los dstntos grupos de la CIP, ofree omo resultado un vetor, uyos elementos son las patentes usadas en las dferentes lases de los setores ndustrales de la CIS; y esto onsttuye la expresón entral del modelo de Conordana Tenológa de Yale III RESULTADOS El modelo de Conordana Invenón-Innovaón Desarrollo del modelo 1 Sea I 1,2,,,, máx un sstema de lasfaón de nvenones tenológas regstradas omo patentes oneddas, donde ada valor, representa un ampo tenológo y donde máx, representa el total de ampos tenológos de I En el sentdo de la orrespondena nvenónnnovaón, el valor máx se nterpreta omo la ampltud de oferta tenológa que se genera en la Unversdad y que puede ser presentada a los setores eonómos, o omo la varedad de tenologías, según la lasfaón que se asume para la onordana S se dspone de una base de datos de patentes oneddas, entones es posble estableer la antdad de patentes oneddas por ada uno de los ampos tenológos de la lasfaón I Esa dstrbuón se onreta en el modo en que se expla a ontnuaón 2 Sea P la antdad de patentes oneddas ubadas en el ampo tenológo (1 ) máx // P 1 //,, // P máx // la lasfaón I Entones queda defndo el vetor P de la dstrbuón de patentes oneddas por ada uno de los ampos tenológos I La antdad total de patentes oneddas es la suma dada por la expresón 1 de máx 1 P (1) La defnón del vetor anteror permte estableer el onepto de densdad de nvenón tenológa en un tempo t de la manera sguente 3 Sea t un ntervalo de tempo para el análss de las patentes oneddas Se defne la densdad de nvenón d del ampo I omo la antdad de patentes oneddas en ese ampo durante el ntervalo de tempo t 0 En notaón se esrbe la expresón 2 // P // d, I (2) t 155 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

6 A B ZALDÍVAR-CASTRO, L OCONNOR-MONTERO Tambén queda defndo el vetor densdad de nvenón de patentes D según I, medante la expresón D (d1, d2,,d máx) 4 Sea J 1,2,, j,,j máx un sstema de lasfaón de los setores de la eonomía del país, tal que ada valor j, representa un determnado setor que realza una atvdad eonóma y (j máx es la antdad máxma de setores en J) Se supone que en ada setor hay una atvdad téno-produtva en orrespondena on una erta apadad tenológa nstalada en el setor Como resultado de esa atvdad se genera una varaón en el setor eonómo j Se entende por varaón: la dferena en térmnos de remento o deremento que expermenta en este aso ada setor eonómo j (1 j jmáx ), de un año respeto al anteror, en un período de tempo t 0, y que se denota j Esa magntud se determna a partr de rteros eonómos y es medda a través de ndadores Los ndadores son estadístas que srven para evaluar, dar segumento, preder tendenas y valorar el desempeño, que se orgnan en la atvdad eonóma produtva, sus resultados, gastos, entre otros; y se expresan en dferentes undades de meddas Éstos son utlzados por la Ofna Naonal de Estadístas (ONE) para analzar el omportamento de la eonomía ubana Al emplear n ndadores Ind 1, Ind2,, Indn, se establee el rgor de formalzar una ponderaón En el aso de no emplearlos, entones se requere de alguna fuente desde la ual se determne tal varaón para ada setor j Se emplean los oefentes jl para ndar la ponderaón y se onvene asgnar valores -1, 0 y 1 a éstos, omo en la expresón 3 1, s Indl es negatvo jl 0, s Indl es nulo (3) 1, s Indl es postvo Esta onvenena se debe a que, posterormente, se estableen ordenamentos de los setores eonómos j, y tales valores de los oefentes faltan tal ordenamento 5 Los ndadores Ind 1, Ind2,, Indn y el térmno j (1 j jmáx ), pueden uantfarse en térmnos porentuales o en antdades demales, según onvenga La dependena de ada uno de los j en funón de los ndadores empleados, queda expresada medante una ponderaón, que smbólamente se esrbe omo en la expresón 4 j n L1 Indl (4) Jl jl ndan la ponderaón, Ind son los ndadores y l es la En esa expresón, los oefentes varable que va ontando el número de ndadores asumdos para la obtener 6 El heho de haber onsderado n ndadores, revela el aráter multfatoral de la magntud j y junto a la oferta tenológa que la Unversdad presenta a los setores eonómos (valor máx ), permte defnr lo que se entende por apadad k j del setor eonómo, para realzar nnovaones tenológas desde las nvenones unverstaras Esta apadad se defne medante la expresón 5 k j máx j j (5) 7 La magntud j, se defne en un período de tempo en años y por otra parte, para la onstruón del modelo de onordana se utlza el tempo t, de tal manera que permte defnr la rapdez de remento promedo C j del setor j, la que se expresa omo la razón entre el remento j y el tempo t, y se denota omo la expresón 6 C j j (6) t 156 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

7 LA GESTIÓN POR LA INNOVACIÓN TECNOLÓGICA DESDE LAS PATENTES UNIVERSITARIAS 8 La razón entre la rapdez de remento promedo C j y la densdad de nvenón tenológa d, del ampo tenológo, en el msmo tempo t ; permte alular la tasa de remento del setor eonómo j respeto al ampo tenológo Se denota de tal manera, que queda explíta la relaón entre una propuesta de nvenón dada en un tpo de tenología y un setor eonómo j (expresón 7) C j C j, s se relaona a j d 0, s no se relaona on j (7) Esta razón C j rebe el nombre de Razón de Conordana entre las nvenones tenológas dadas en la lasfaón I y los setores eonómos de la lasfaón J Al msmo tempo permte omprender que C j es dferente de ero, s y sólo s, la nvenón dada en el grupo tenológo, enuentra relaón tenológa en el setor eonómo j En aso ontraro, su valor es ero Ese heho se puede tratar desde la ultura del ngenero, porque forma parte de la práta omún del tenólogo en su atvdad profesonal relaonada on el desarrollo tenológo y permtrá, posterormente, ompletar el rtero de toma de desones para el destno de una nvenón tenológa Lo señalado anterormente es posble, puesto que se sabe que no todas las nvenones patentadas son omeralzadas y otras tenen el objetvo de oupar el merado e mpedr la ompetena En tal aso, C j tendría el valor ero Esa razón, defnda en la expresón 7 y denomnada razón de onordana ampo tenológo -setor eonómo j, permte onstrur la matrz de onordana entre el sstema de ampos tenológos y el sstema de setores eonómos T Sea la matrz: M ( C j ) IXJ, entones a su transpuesta M ( C j ) JXI, se le denomna Matrz de Conordana ampos tenológos -setores eonómos j Tal matrz permte defnr el ndador desde el ual se elabora el rtero de toma de desones en el ordenamento de los setores eonómos para la asgnaón de patentes 9 Sea y j, (1 j jmáx ), el ndador de seleón del setor j de la eonomía para la asgnaón de patentes (ISSEjAP) Para determnar el vetor Y ( y1, y2, y jmáx ) de todos los ndadores y j, para la asgnaón de las patentes por setores eonómos j J, se proede del modo sguente: Consdérese la defnón de razón de onordana C j del setor eonómo j, respeto al ampo T tenológo, la matrz de onordana M y el vetor de dstrbuón de patentes P P //,, // P // ; entones se establee la relaón que se observa en la expresón 8 // 1 máx T Y M JX I T I x P (8) Esa relaón expresa el produto matral de la matrz de onordana por el vetor de dstrbuón de patentes según la lasfaón I y térmno a térmno da el resultado de la expresón 9 y y y 1 2 jmáx jmáx jmáx máx 1 máx 2 máx jmáx p p x p 1 2 máx 1 (9) 157 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

8 A B ZALDÍVAR-CASTRO, L OCONNOR-MONTERO De donde se obtene la expresón 10 y j I C j P ; j J (10) Dado que expresón 11 C j Cj y tras onsderar (2) y (4), se tene que d C j j t p, de lo ual se obtene la t C j j (11) p De las expresones 10 y 11, resulta que para j J, se umple la expresón 12 I j y j Cj P P j max * j (12) P Ese resultado (12) da a onoer que, desde el punto de vsta de la gestón tenológa, en el sentdo de la relaón patente nnovaón, el álulo del ndador y j, de seleón del setor eonómo j para la asgnaón de patentes (ISSEjAP), está en relaón on la apadad de nnovaón tenológa k j del setor eonómo j En la práta, el valor k j se onverte en una ota superor del número y j, debdo a que determnadas razones de onordana C j pueden ser ero y en onseuena, dsmnuye el valor de la suma Desde esa magntud y para busar la relaón on el grupo de patentes de un grupo tenológo en partular, se defne el ndador de seleón de setor eonómo j, para la asgnaón de patentes desde el grupo tenológo (ISSEjAP) La expresón que defne ese ndador está dada por los razonamentos sguentes S el setor eonómo j J tene k j j * máx apadad de nnovar tenológamente y es el número de patentes en el ampo tenológo I, entones se defne la magntud y j, dada por la expresón 13 I P Y j max * j p (13) Ese resultado es la estmaón de un oefente, según el ual una patente dada en el grupo tenológo I, puede ser aplada en el setor eonómo j J, para onvertrse en una nnovaón tenológa Dho resultado permte dentfar un ndador de seletvdad, para que patentes del ampo tenológo I, sean aplables en el setor eonómo j J y es el ndador ISSEjAP Se puede esrbr ISSEjAP =: y j El onjunto de expresones (1)-(13) onsttuye un sstema de relaones, desde el ual se establee el rtero de toma de desones para la seletvdad de los setores eonómos, según los uales, dada una base de datos de patentes, suseptbles de ser organzadas por grupos de tenologías y un rtero de remento eonómo j de los setores eonómos; entones es posble organzar ordenamentos en tales setores eonómos, on el objetvo de gestonar las patentes para su onversón en nnovaones tenológas 158 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

9 LA GESTIÓN POR LA INNOVACIÓN TECNOLÓGICA DESDE LAS PATENTES UNIVERSITARIAS Crtero para la toma de desones A ontnuaón se desrben las 2 partes del rtero de toma de desones, según el ual se onsdera la fatbldad de la aplaón El autor de la patente debe busar una soluón de ompromso on estos 2 elementos 1 El autor de la patente tene en su poder el tpo de tenología y alula, para ada valor j, los oefentes y j en el período de tempo t onvendo Con estos álulos obtenen j máx valores, los uales son ordenados y, en tanto mayor es el ndador, más atratvo es el setor de la eonomía para gestar la aplaón 2 De modo smlar al anteror, prefjado el valor de, se realza el álulo sguente para ada valor de j del onjunto J: se determna el monto (estmado empíramente) al ual asende la nversón que se requere realzar para aplar la nvenón del tpo de tenología en el setor j Con ello se obtenen j máx valores, lo que se ordenan y se esogen los setores de menor nversón En aso de no onsderar las nversones, entones sólo se trabaja on el omportamento de los ndadores y j IV DISCUSIÓN Los resultados expuestos en el epígrafe anteror son una muestra de lo que se puede lograr en térmnos de la gestón por la nnovaón tenológa en un ontexto aadémo omo lo es el Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría; y que puede ser aplado en ualquer otra unversdad, sempre que se dsponga de un nvel adeuado de base de datos de patentes Dado que las bases de datos de patentes y de setores eonómos pueden ser extensas, entones los álulos asoados no resultan ómodos en su realzaón Esto oblga al dseño de un sstema automatzado, on el objetvo de enontrar los setores eonómos más fatbles para mplementar una nvenón lasfada anterormente en el sstema De gual forma, se debe estableer una metodología que srva de base orentadora para los usuaros y gestores de la nsttuón, en el sentdo de realzar la gestón por la nnovaón tenológa desde las nvenones protegdas V CONCLUSIONES 1 El problema planteado y la soluón onstruda tenen alta pertnena en el ISPJAE, al no dsponerse en esta nsttuón de proedmentos metodológos espeífos para la toma de desones, que permtan favoreer el desarrollo del proeso de nnovaón tenológa desde las nvenones patentadas Éste puede ser aplado en otras nsttuones smlares, sempre que se dsponga de las bases de datos neesaras 2 La nvestgaón realzada permte mplementar un modelo de onordana nvenón nnovaón, el ual desubre un nuevo potenal en el uso del ndador de patente en el ontexto espeífo ubano y abre un nuevo amno para el estudo de la nnovaón tenológa VI REFERENCIAS 1 Organzaón Mundal del Comero (OMC), Auerdo sobre los aspetos de los Derehos de Propedad Inteletual relaonados on el omero [en línea], Marrakeh, Marrueos, 1994 [onsulta: ] Dsponble en: < trps_01_shtm> 2 ZALDÍVAR, A B, «Propuesta teóro metodológa para el desarrollo del proeso de nnovaón tenológa, desde las nvenones patentadas en el ISPJAE en el período », [tess de dotorado], La Habana, Insttuto Superor Polténo José Antono Eheverría, Cujae, GRILICHES, Z, «Patent Statsts as Eonom Indators A Survey», Journal of Eonom Lterature [en línea], 1990, vol 28, no 4, pp [onsulta: ], ISSN Dsponble en: < 4 EVENSON, R E; KORTUM, S; PUTMAN, J, Estmatng Patents Counts by Industry Usng the Yale-Canada Conordane Fnal Report to the Natonal Sene Foundaton [en línea], , publ -[onsulta: ] Dsponble en: < annex2do> 157 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012

10 A B ZALDÍVAR-CASTRO, L OCONNOR-MONTERO 5 BERCOVITZ, A, «Ttulardad y Explotaón de los derehos en las relaones empresaunversdad», Los retos de la propedad ndustral en el Sglo XXI, Lma (Perú), Indeop, 1999, p 32, ISBN ZALDÍVAR, A B; OCONNOR, L, «Una Experena Cubana en la Gestón por la Innovaón desde las Patentes Unverstaras» CONHISREMI, 2010, vol 6, no 1, ISSN Ofna Cubana de Propedad Industral (OCPI), Legslaones [en línea], La Habana, 2006 [onsulta: ] Dsponble en: < 8 ZALDÍVAR, A B, «La proteón de las nnovaones», Revsta Ensaos e Cena [en línea], 2001, vol 5, no 3, pp [onsulta: ], ISSN Dsponble en: < 9 Organzaón Mundal de la Propedad Inteletual (OMPI), Las atvdades de la OMPI relatvas a la promoón de las nvenones e nnovaones [en línea], 2010 [onsulta: ] Dsponble en: < 10 JOHNSON, KN, The OCED tehnology onordane (OTC): patents by ndustry of manufature and setor of use [en línea], 2002 [onsulta: ] Dsponble en: < b6f a/$FILE/JT PDF> 11 Canadan Intelletual Property Offe, Canadan Patents Database [en línea], 2012 [onsulta: ] Dsponble en: < 12 Organzaón Mundal de la Propedad Inteletual (OMPI), Arreglo de Estrasburgo relatvo a la Clasfaón Internaonal de Patentes [en línea], 1975 [onsulta: ] Dsponble en: < 13 Ofna Naonal de Estadístas (ONE), Clasfador de Atvdades Eonómas [en línea], 2009 [onsulta: ] Dsponble en: < 160 Ingenería Industral/ISSN /Vol XXXIII/No 2/mayo-agosto/2012